AttoMap™ - analytisches µXRF Röntgenmikroskop

von SIGRAY

Das AttoMap™ µXRF Röntgenmikroskop bietet die höchste Auflösung und die größte Sensitivität eines Laborsystems und ermöglicht Ergebnisse welche bisher nur an einem Synchrotron erzielt werden konnten. Es kann sowohl für Transmissions- als auch für Fluoreszenzmessungen zur chemischen Analyse verwendet werden. Erste Ergebnisse bei der Spurenelement Analyse zeigen eine Sensitivität von <1-10 ppm bei einer Messdauer von 1 Sekunde.

Weitere Informationen

Die Vorteile des AttoMap™ Systems im Vergleich zu herkömmlichen µXRF Laborsystemen basieren auf drei Innovationen welche Sigray entwickelt hat.

  1. Die patentierte FAAST™ Röntgenquelle mit 50x höherer Helligkeit im Vergleich zu anderen Mikrofokus Röntgenquellen welche normalerweise in µXRF Systemen verbaut werden,
  2. Hoch effiziente, eigenentwickelte Röntgenoptiken welche einen kleinen, achromatischen Fokus mit einem großen Arbeitsabstand kombinieren.
  3. Eine Detektor Geometrie welche eine 10x Fluoreszenzausbeute im Vergleich zu herkömmlichen Aufbauten gewährleistet.

Basierend auf diesen drei Eigenentwicklungen ermöglicht das AttoMap™ System völlig neue Ansätze für µXRF Experimente:

  • Substantiell, höhere Auflösung im Bereich von 3-5 µm MTF welche die Detektion von Nanopartikeln im Bereich von 50-100 nm ermöglicht
  • Dramatisch schnellere Aufnahmegeschwindigkeiten im Bereich von nur einer Minute im Vergleich zu einem halben Tag bei normalen µXRF Systemen ermöglichen einen bis zu 500x höheren Probendurchsatz
  • Sub-ppm und sub-Femtogramm Sensitivität in Sekunden ermöglicht erstmalig Spurenelement Analyse mit einem µXRF Laborsystem
  • Akkurate Quantifizierungsmöglichkeiten und eine optionale Zwei-Energie Röntgenquelle für maximale Flexibilität
  • Die Möglichkeit verdeckte Mikrostrukturen zu analysieren

Spezifikation

Parameter Specification
Spot Size High Res (<8 µm) | Med Res additional optics also available
Sensitivity Sub-ppm relative detection sensitivity and capable of mapping trace elements. Picogram to femtogram absolute sensitvity (element & acquisition time dependent)
Additional Capabilities & Modules 2D correlative x-ray imaging at <1 µm resolution included (standard)
Optical microscopy included (standard)
Future modules will be available as upgrades
Footprint 54” W x 65.5” H x 38.5” D
Maximum Sample Size 50 cm x 50 cm | 15 cm thickness
Source Sigray FAAST™ Microstructured Source
Target Material Dual Energy Option, includes selection from: Ti, Cu, Rh, W, Pt, Zr, etc. Custom target options include materials that have previously not been used in conventional sources.
Power | Voltage | Current 50 W | 20-50 kV | 4 mA
X-ray Optic Sigray Twin Paraboloidal X-ray Mirror Lens
Transmission Efficiency ~80%
Working Distance 10 - 50 mm (customizable)
Interior Coating Platinum (increases NA of optic significantly)
X-ray Detectors Two SDD detectors and an X-ray Camera
Energy Resolution <135 eV at Mn-Ka

Downloads

AttoMap 200
X-ray optics brochure
FAAST Phase x-ray source
AppNote Analysis of trace elemental distribution in plant specimen
AppNote Metrology of 3D transistors for La/Hf, Co, Ni dopant
AppNote Quantifying tempered glass layer

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Dr. Andreas Bergner
Dr. Andreas Bergner

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