In-situ Zug-Probentisch CT500 500N für µ-Computertomographie-Anwendungen
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In-situ Zug-Probentisch CT500 500N für µ-Computertomographie-Anwendungen

Von Deben
Mit den in-situ µCT-Probentischen können Druck- und Zugexperimente durchgeführt werden ohne dass die Probe aus dem Computertomographen entnommen werden muss. Es können Kräfte bis 25 kN auf die Probe ausgeübt werden mit einer Kraftauflösung bis zu 25 mN. Zusätzliche ist eine Temperierung der Probe möglich. Die Probentische können mit vielen kommerziellen CT-Systemen (z.B. Zeiss, Nikon, GE) und auch Eigenbauten betrieben werden.Eigenschaften
  • Gewicht von weniger als 1 kg
  • Kompatibel mit verschiedenen CT-Systemen
  • Modular
  • Kundenspezifische Druck- und Zughalterungen

Spezifikation

CT500 allgemeine Spezifikationen:

  • Modulares Zug- und Kompressionssystem zum Einbau in µCT-Systeme
  • Kundenspezifische Druck- und Zughalterungen
  • Anpassbare Montageplatte für vorhandene Rotationsstage
  • Maximale Kraftauflösung 1000:1 dynamisch, 2000:1 statisch (über den gesamten Bereich)
  • MICROTEST Windows™ Softwaresteuerung
  • Benötigt wird ein externer PC mit Windows™ XP/7.0/8.0 Professional, 2GB RAM, CD ROM und einem freien USB2 Anschluss
  • 230 V/115 V
  • Einfacher Mechanismus zum Probentausch mit ULTEM Polymer Tube, 1.5 mm Wanddicke (3.0 mm im Strahlgang)
  • Maximaler Ausziehweg 10 mm (Hub kann nach Kundenwünschen eingestellt werden, Standard ist 10-20 mm Zug und 15-5 mm Kompression mit verbauten Kompressionsplatten.
  • Festverbaute Kraftmesszelle mit einer Genauigkeit von 1% über den gesamten Bereich. Wahlweise mit 50 N, 200 N oder 500 N (Kraftzelle kann nicht vom Kunden gewechselt werden)
  • Gewicht: ~1.0 kg

CT500 Optionen:

  • 3 & 4 Punkt Biegeplatten
  • Kundenspezifische Probenhalterungen

Downloads

In-situ testing stages for XRM/µXCT
In-situ testing stages for XRM/µXCT
Using CT500 application note
Using CT500 application note

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Dr. Andreas Bergner
Dr. Andreas Bergner

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Andreas BergnerProdukt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
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