In-situ Druck-/Zug-Probentisch CT5000 5KN für µ-Computertomographie-Anwendungen
Unser PartnerDeben

In-situ Druck-/Zug-Probentisch CT5000 5KN für µ-Computertomographie-Anwendungen

Von Deben
Mit den in-situ µCT-Probentischen können Druck- und Zugexperimente durchgeführt werden ohne dass die Probe aus dem Computertomographen entnommen werden muss. Es können Kräfte bis 25 kN auf die Probe ausgeübt werden mit einer Kraftauflösung bis zu 25 mN. Zusätzliche ist eine Temperierung der Probe möglich. Die Probentische können mit vielen kommerziellen CT-Systemen (z.B. Zeiss, Nikon, GE) und auch Eigenbauten betrieben werden.Eigenschaften
  • Gewicht von weniger als 5 kg
  • Kompatibel mit verschiedenen CT-Systemen
  • Modular
  • Kundenspezifische Druck- und Zughalterungen

Spezifikation

Folgende Versionen des CT5000 sind erhältlich:

  • CT5000RT (Raumtemperatur)
  • CT5000TEC, Peltier heiz- und kühlbarer Probentisch (-20 °C bis +160 °C)
  • CT5000H250, Heizbarer Probentisch (RT bis +250 °C)
  • CT5000RT Upgrade (kann nachträglich zu TEC oder H250 umgebaut werden)

CT500 allgemeine Spezifikationen

  • Modulares Zug- und Kompressionssystem zum Einbau in µCT-Systeme
  • Kundenspezifische Druck- und Zughalterungen
  • Anpassbare Montageplatte für vorhandene Rotationsstage
  • Maximale Kraftauflösung 1000:1 dynamisch, 2000:1 statisch (über den gesamten Bereich)
  • MICROTEST Windows™ Softwaresteuerung
  • Benötigt wird ein externer PC mit Windows™ XP/7.0/8.0 Professional, 2GB RAM, CD ROM und einem freien USB2 Anschluss
  • 230 V/115 V
  • Einfacher Mechanismus zum Probentausch mit ULTEM Polymer Tube, 1.5 mm Wanddicke (3.0 mm im Strahlgang)
  • Maximale Ausziehweg 10 mm (Hub kann nach Kundenwünschen eingestellt werden, Standard ist 10-20 mm Zug und 15-5 mm Kompression mit verbauten Kompressionsplatten.
  • Festverbaute Kraftmesszelle mit einer Genauigkeit von 1% über den gesamten Bereich. Wahlweise mit 500 N, 1 kN, 3 kN oder 5 kN (Kraftzelle kann nicht vom Kunden gewechselt werden)
  • Gewicht: ~4.0 kg (RT), < 5 kg (TEC oder H250)

CT5000 Optionen:

  • CT5000TEC, Peltier Heiz- und Kühlstage (-20 °C bis +160°C)
  • CT5000H250, Heizstage (RT bis +250 °C)
  • Loadcell Kit zum Austausch der Loadcell
  • 3 & 4 Punkt Biegeplatten
  • Kundenspezifische Probenhalterungen
  • Zelle zur Kompression in Flüssigkeiten

Downloads

Using CT5000 application note
Using CT5000 application note
In-situ testing stages for XRM/μXCT
In-situ testing stages for XRM/μXCT

Kontakt

Dr. Andreas Bergner
Dr. Andreas Bergner

Kontakt

Quantum Design GmbH

Im Tiefen See 58
64293 Darmstadt
Germany

Telefon:+49 6151 8806-0
Fax:+49 6151 8806920
E-Mail:germany@qd-europe.com
Cookie Hinweis Cookies helfen uns bei der Bereitstellung unserer Dienste. Wenn Sie unsere Dienste nutzen, stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu. Datenschutzhinweise
Andreas BergnerProdukt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
+49 6151 8806-12
bergner@qd-europe.com