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REM-Vakuumflansche für elektrische Kabeldurchführung

Von Deben
Deben bietet einen Vakuumflansch zur Durchführung von 14 elektrischen Signalen für die meisten Elektronenmikroskope von JEOL, Hitachi, FEI oder Zeiss an. Kundenspezifische Modelle können nach Absprache in 6-8 Wochen gefertigt werden.Eigenschaften
  • Glas zu Metallvakuumdichtung
  • Externer 15-fach D-Typ Stecker mit direkter Pin zu Pin Verkabelung
  • Vakuum getestet bis zu1×10-8 mBar
  • Röntgensicher
  • Kompaktes Design
  • Erhältlich für alle Ports mit 40 mm Durchmesser

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PCD port SEM beam blanking system
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Dr. Andreas Bergner
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64293 Darmstadt
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Telefon:+49 6151 8806-0
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Andreas BergnerProdukt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
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