CCD-Kameras für direkte Detektion (<20 keV)
Unser PartnerAndor Oxford Instruments

CCD-Kameras für direkte Detektion (<20 keV)

iKon SO und Newton SO von Andor Technology
Neben dem Standardeinsatz als bildgebende Systeme eignen sich CCD-Sensoren auch zur direkten Detektion von Licht im VUV- und EUV-Bereich und weicher Röntgenstrahlung. Zu diesem Zweck bieten wir Back-Illuminated-CCD -Sensoren ohne Beschichtungen und Mikrolinsen-Arrays an. Thermoelektrische Tieftemperaturkühlung und ausgezeichnete Linearität und Homogenität ermöglichen auch die Detektion schwacher Signale mit langen Belichtungszeiten.Eigenschaften
  • Back-Illuminated-CCDs ohne Antireflex-Beschichtung
  • Pixelgrößen 13 µm, 13,5 µm, 15 µm und 26 µm
  • Thermoelektrische Kühlung bis -100°C für niedrigen Dunkelstrom
  • Hochwertige 16- und 18-Bit-A/D-Wandler für niedriges Ausleserauschen
  • Mit beliebigen Vakuumanschlüssen kompatible Flansche

Weitere Informationen

Wir bieten vakuumkompatible CCD-Detektoren mit unterschiedlichen Sensorformaten. Die Detektion von Licht im VUV- und EUV-Bereich sowie weicher Röntgenstrahlung erfolgt durch direkte Absorption von Photonen in der Verarmungsschicht eines Pixel. Abhängig von der Energie der Photonen entsteht eine bestimmte Anzahl von Elektronenlochpaaren. Hervorragende Linearität und Homogenität gewährleistet eine hohe Qualität der Messdaten. CF- und sonstige Vakuumflansche können auf Anfrage angeboten werden. Andor-Röntgenkameras kommen in zahlreichen Forschungslaboratorien für Hochenergiephysik weltweit zum Einsatz.

Spezifikation

pdf
iKon-XL_SO.pdf
2.88 MB
iKon-XL SO 231 (4096 x 4108 x 15 µm)
pdf
iKon-M-L_SO.pdf
5.56 MB
iKon-L SO 936 (2048 x 2048 x 13,5 µm)
pdf
Newton_SO.pdf
3.16 MB
Newton SO 940 (2048 x 512 x 13,5 µm)

Anwendungen

Erzeugung von Harmonischen höherer Ordnung
Weiche Röntgenstrahlung
Spektroskopie im VUV- und EUV-Bereich
Synchrotron-Strahlung
Röntgentomographie

Downloads

Detection of high energy radiation
Detection of high energy radiation
Vacuum flanges
Vacuum flanges
Liquid cooling system EXT-440
Liquid cooling system EXT-440
Software for Andor cameras and spectrographs
Software for Andor cameras and spectrographs
X-ray damage
X-ray damage

Referenzkunden

TitleAuthor(s)InstituteYearDetector
Spectroscopy
A new compact soft X-ray spectrometer for RIXS studies at PETRA IIIZ. Yin1,2,
S. Techert1,2,3

1 FS-SCS, Deutsches Elektronen-Synchrotron (DESY), Hamburg, Germany
2 Structural Dynamics of (Bio)chemical Systems, Max Planck Institute for Biophysical Chemistry, Göttingen, Germany
3 Institute of X-ray Physics, Georg-August University, Göttingen, Germany

2017iKon-L SO DO936N-OZ-BN
High-harmonic radiation for seeding the swiss free electron laseJ. Rauschenberger1, C. Hauri21H+P SPECTROSCOPY,
Dr. Hoerlein +
Partner GbR,
Mannheim, Germany, 2Paul Scherrer Institut,
Villigen, Switzerland
2016Newton SO DO940P-BN
Investigation of spin dynamics in Ni-Pd alloys
using extreme ultraviolet radiation
S. Gang,
R. Adam,
M. Plötzing,
C. M. Schneider
Peter Grünberg Institut (PGI-6), Forschungszentrum Jülich GmbH, JARA, Jülich, Germany2016Newton SO DO920P-BEN
Compact soft x-ray spectrometer for laser-matter studiesR. IrsigInstitute of Physics, University of Rostock, Germany2012


Newton SO DO940P-BN

Warm dense matter analysisP. Neumayer,
D. Hochhaus et al.
GSI, Darmstadt, Germany2012

iKon-M SO DO934P-BN
DX420-BN

Element-selective ultrafast magnetization dynamicsD. Rudolf1,
Chan La-O-Vorakiat2,
E. Turgut2,
P. Grychtol1,4,
R. Adam1,
S. Mathias4,
J. M. Shaw3,
H. T. Nembach3,
T. J. Silva 3,
M. Aeschlimann4,
C. M. Schneider1,
M. M. Murnane2,
H. C. Kapteyn2
1Peter Grünberg Institute (PGI-6), Forschungszentrum Jülich, Germany
2Department of Physics and JILA, University of Colorado, Boulder, USA
3Electromagnetics Division, National Institute of Standards and Technology, Boulder, USA
4University of Kaiserslautern and Research Center OPTIMAS, Kaiserslautern, Germany
2012

iKon-L SO DO936N-MW-BN

Table-top coherent x-ray-source from mid-infrared high power laser interaction with gasesT. Popmintchev1,
M.-C. Chen1,
D. Popmintchev1,
S. Ališauskas2,
G. Andriukaitis2,
T. Balčiūnas2,
A. Pugžlys2,
A. Baltuška2,
M. Murnane1,
H. Kapteyn1
1  JILA, University of Colorado, Boulder, USA
2  Photonics Institute, Vienna University of Technology, Austria
2011

Newton SO DO920N-BN

Monochromatizing a femtosecond high-order harmonic VUV photon source with reflective off-axis zone platesM. Ibek,
T. Leitner,
P. Wernet,
A. Firsov,
A. Erko
Methods and Instrumentation for Synchrotron Radiation Research and Nanometer Optics and Technology, Helmholtz Center Berlin for Materials and Energy, Germany2011

iKon-L SO DO936N-MW-BN

Sample analysis with a grazing incidence XUV reflectometerS. Brose,
M. Banyay,
L. Juschkin,
S. Danylyuk
Chair for the Technology of Optical Systems, RWTH Aachen, Germany2011

DX440-BN2

Single event spectroscopy on laser generated x-ray beamsC. Kern,
M. Schnell,
C. Spielmann
Institute of Optics and Quantum Electronics, University of Jena, Germany2010

iKon-L SO DO936N-MW-BN

Spectral and spatial characterization of harmonics in the XUV regionS. Eyring,
C. Kern,
J. Lohbreier,
R. Spitzenpfeil,
C. Spielmann
Institute of Optics and Quantum Electronics, University of Jena, Germany2009

DO420-BN1

A calibrated compact soft X-Ray spectrometerH. Stiel,
H. Legall
Max Born Institute of Nonlinear Optics and Ultrafast Spectroscopy, Berlin, Germany2009

iDus SO DO420A-BN3

Time resolved X-Ray diffractionI. UschmannInstitute of Optics and Quantumelectronics, University of Jena, Germany2007

DX420-BR-DD2

Laserartige  XUV-Strahlung:
Charakterisierung und Handhabung von Gasharmonischen
A. Klein,
D. Hemmers,
G. Pretzler
Institute of Laser- and Plasmaphysics, University of Düsseldorf, Germany2006

DO420-BN1

Characterization of light sources
High-harmonic radiation for seeding the swiss free electron laseJ. Rauschenberger1, C. Hauri21H+P SPECTROSCOPY,
Dr. Hoerlein +
Partner GbR,
Mannheim, Germany, 2Paul Scherrer Institut,
Villigen, Switzerland
2016Newton DO940P-BN
Spatial characterization of a discharge based radiationK. Bergmann,
J. Vieker
Fraunhofer Institute for Laser Technology, Aachen, Germany2013

iKon-M SO DO934P-BN

Table-top coherent x-ray-source from mid-infrared high power laser interaction with gasesT. Popmintchev1,
M.-C. Chen1,
D. Popmintchev1,
S. Ališauskas2,
G. Andriukaitis2,
T. Balčiūnas2,
A. Pugžlys2,
A. Baltuška2,
M. Murnane1,
H. Kapteyn1
1  JILA, University of Colorado, Boulder, USA
2  Photonics Institute, Vienna University of Technology, Austria
2011

Newton SO DO920N-BN

Monochromatizing a femtosecond high-order harmonic VUV photon source with reflective off-axis zone platesM. Ibek,
T. Leitner,
P. Wernet,
A. Firsov,
A. Erko
Methods and Instrumentation for Synchrotron Radiation Research and Nanometer Optics and Technology, Helmholtz Center Berlin for Materials and Energy, Germany2011

iKon-L SO DO936N-MW-BN

Single event spectroscopy on laser generated x-ray beamsC. Kern,
M. Schnell,
C. Spielmann
Institute of Optics and Quantum Electronics, University of Jena, Germany2010

iKon-L SO DO936N-MW-BN

Spectral and spatial characterization of harmonics in the XUV regionS. Eyring,
C. Kern,
J. Lohbreier,
R. Spitzenpfeil,
C. Spielmann
Institute of Optics and Quantum Electronics, University of Jena, Germany2009

DO420-BN1

Time resolved X-Ray diffractionI. UschmannInstitute of Optics and Quantumelectronics, University of Jena, Germany2007

DX420-BR-DD2

Laserartige  XUV-Strahlung:
Charakterisierung und Handhabung von Gasharmonischen
A. Klein,
D. Hemmers,
G. Pretzler
Institute of Laser- and Plasmaphysics, University of Düsseldorf, Germany2006

DO420-BN1

Small angle scattering using XUV light from high-order harmonic generationCh. Weier,
R. Adam,
C. M. Schneider
Peter Grünberg Institute, Forschungszentrum Jülich GmbH, Germany2014

Newton SO DO920P-BN

Microscopy
Soft x-ray microscopy using a table-top laser-induced plasma source based on a pulsed gas jetM. Müller,
K. Mann
Laser-Laboratorium Göttingen e.V.,
Optics / Short Wavelengths
2017iKon-L SO DO936N-OW-BN
Coherent microscopy with soft X-raysR. Heine,
A. Rosenhahn
Institute of Functional Interfaces, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe,  and Institute of Applied Physical Chemistry, University of Heidelberg, Germany2010

DODX436-BN2

Scattering
Small angle scattering using XUV light from high-order harmonic generationCh. Weier,
R. Adam,
C. M. Schneider
Peter Grünberg Institute, Forschungszentrum Jülich GmbH, Germany2014

Newton SO DO920P-BN

Coherent X-ray scattering experiments at the coherence beamline P10 at PETRA IIIL. Müller,
F. Westermeier,
M. Sprung
Coherent X-Ray Scattering, DESY, Hamburg, Germany2013

iKon-L SO DO936N-MW-BR-DD

Time-resolved resonant soft x-ray scattering
with free-electron lasers
W. Schlotter1,
F. Sorgenfrei2,
M. Beye3,
W. Wurth2
1Stanford Linear Accelerator Center, Menlo Park, USA
2Institute for Experimental Physics and Center for Free-Electron Laser Science, University of Hamburg, Germany
3  Helmholtz Centre for Materials and Energy, Berlin, Germany
2011

iKon-L SO DO936N-MW-BN

Coherent diffraction imaging
Tabletop coherent diffractive imaging with a gas-discharge extreme ultraviolet light sourceL. Juschkin1,2,
J. Bußmann1,2,
L. Loetgering1,
D. Rudolf1,2, S. Brose3,
S. Danylyuk3,
R. Xu4,
J. Miao4
1Experimental Physics of EUV, RWTH Aachen University, JARA-FIT, Aachen, Germany
2Peter Grünberg Institut (PGI-9), Forschungszentrum Jülich GmbH, JARA-FIT, Jülich, Germany
3Chair for Technology of Optical Systems, RWTH Aachen University, JARA-FIT, Aachen, Germany
4Department of Physics and Astronomy and California NanoSystems Institute, University of California, Los Angeles, USA
2014

iKon-M SO DO934P-BN

Lensless coherence diffraction imaging with an ultra- narrowband laser-based extreme-ultraviolet sourceS. Witte,
V. T. Tenner,
D. W. E. Noom,
K. S. E. Eikema
Institute for Lasers, Life and Biophotonics (LaserLaB), VU University Amsterdam, The Netherlands2014

iKon-M SO DO934P-BN

Phase-contrast imaging
Quantitative X-Ray phase imaging of impact damaged carbon-fiber-reinforced polymersM. Hildebrand, M. Leck,
M. Korth
Department of Analytical Measurement Technology, University of Applied Sciences and Arts, Göttingen, Germany2013

iKon-M SO DO934P-BR-DD

Interferometry
XUV Interferometry using thin-film beam splittersU. Zastrau1,
V. Hilbert1,
M. Wünsche1,
S. Zhang1,
C. Rödel1,2,
E. Förster 2
1Institute of Optics and Quantum Electronics, University of Jena, Germany
2Helmholtz Institute Jena, Germany
2012

iKon-L SO DO936N-MZ-BN

Interferometry in the XUV spectral range using laser- generated high-order harmonicsD. Hemmers,
G. Pretzler
Institute of Functional Interfaces, Karlsruhe Institute of Technology, Karlsruhe,  and Institute of Applied Physical Chemistry, University of Heidelberg, Germany2006

DO420-BN1

Remarks:
1
DO420 replaced by Newton SO 920
2
not available any more
3
iDus SO replaced by Newton SO

Kontakt

Olaf Koschützke
Olaf Koschützke
Markus Krause
Markus Krause
Dr. Thorsten Pieper
Dr. Thorsten Pieper

Kontakt

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Im Tiefen See 58
64293 Darmstadt
Germany

Telefon:+49 6151 8806-0
Fax:+49 6151 8806920
E-Mail:germany@qd-europe.com
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Olaf KoschützkeProdukt Manager - Andor - Schleswig-Holstein, Hamburg, Bremen, Niedersachsen, Nordrhein-Westfalen, Mecklenburg-Vorpommern
+49 6151 8806-43
koschuetzke@qd-europe.com

Markus KrauseProdukt Manager - Andor - Berlin, Brandenburg, Sachsen-Anhalt, Sachsen, Thueringen, Hessen, Rheinland-Pfalz, Saarland
+49 6151 8806-558
krause@qd-europe.com

Thorsten PieperProdukt Manager - Andor - Bayern, Baden-Wuerttemberg, Österreich
+49 6151 8806-754
pieper@qd-europe.com