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AttoMap™ - analytisches µXRF Röntgenmikroskop

von SIGRAY

Das AttoMap™ µXRF Röntgenmikroskop bietet die höchste Auflösung und die größte Sensitivität eines Laborsystems und ermöglicht Ergebnisse welche bisher nur an einem Synchrotron erzielt werden konnten. Es kann sowohl für Transmissions- als auch für Fluoreszenzmessungen zur chemischen Analyse verwendet werden. Erste Ergebnisse bei der Spurenelement Analyse zeigen eine Sensitivität von <1-10 ppm bei einer Messdauer von 1 Sekunde.

Weitere Informationen

Die Vorteile des AttoMap™ Systems im Vergleich zu herkömmlichen µXRF Laborsystemen basieren auf drei Innovationen welche Sigray entwickelt hat.

  1. Die patentierte FAAST™ Röntgenquelle mit 50x höherer Helligkeit im Vergleich zu anderen Mikrofokus Röntgenquellen welche normalerweise in µXRF Systemen verbaut werden,
  2. Hoch effiziente, eigenentwickelte Röntgenoptiken welche einen kleinen, achromatischen Fokus mit einem großen Arbeitsabstand kombinieren.
  3. Eine Detektor Geometrie welche eine 10x Fluoreszenzausbeute im Vergleich zu herkömmlichen Aufbauten gewährleistet.

Basierend auf diesen drei Eigenentwicklungen ermöglicht das AttoMap™ System völlig neue Ansätze für µXRF Experimente:

  • Substantiell, höhere Auflösung im Bereich von 3-5 µm MTF welche die Detektion von Nanopartikeln im Bereich von 50-100 nm ermöglicht
  • Dramatisch schnellere Aufnahmegeschwindigkeiten im Bereich von nur einer Minute im Vergleich zu einem halben Tag bei normalen µXRF Systemen ermöglichen einen bis zu 500x höheren Probendurchsatz
  • Sub-ppm und sub-Femtogramm Sensitivität in Sekunden ermöglicht erstmalig Spurenelement Analyse mit einem µXRF Laborsystem
  • Akkurate Quantifizierungsmöglichkeiten und eine optionale Zwei-Energie Röntgenquelle für maximale Flexibilität
  • Die Möglichkeit verdeckte Mikrostrukturen zu analysieren

Spezifikation

ParameterSpecification
Spot SizeHigh Res (<8 µm) | Med Res additional optics also available
SensitivitySub-ppm relative detection sensitivity and capable of mapping trace elements. Picogram to femtogram absolute sensitvity (element & acquisition time dependent)
Additional Capabilities & Modules2D correlative x-ray imaging at <1 µm resolution included (standard)
Optical microscopy included (standard)
Future modules will be available as upgrades
Footprint54” W x 65.5” H x 38.5” D
Maximum Sample Size50 cm x 50 cm | 15 cm thickness
SourceSigray FAAST™ Microstructured Source
Target MaterialDual Energy Option, includes selection from: Ti, Cu, Rh, W, Pt, Zr, etc. Custom target options include materials that have previously not been used in conventional sources.
Power | Voltage | Current50 W | 20-50 kV | 4 mA
X-ray OpticSigray Twin Paraboloidal X-ray Mirror Lens
Transmission Efficiency~80%
Working Distance10 - 50 mm (customizable)
Interior CoatingPlatinum (increases NA of optic significantly)
X-ray DetectorsTwo SDD detectors and an X-ray Camera
Energy Resolution<135 eV at Mn-Ka

Downloads

AttoMap™ - x-ray analytical microscope
AttoMap™ - x-ray analytical microscope
Analysis of trace element distribution in plant specimens AppNote
Analysis of trace element distribution in plant specimens AppNote
Quantifying tempered glass layer compositions AppNote
Quantifying tempered glass layer compositions AppNote
X-ray optics brochure
X-ray optics brochure
FAAST™ x-ray source brochure
FAAST™ x-ray source brochure

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Dr. Andreas Bergner
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Andreas BergnerProdukt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
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