TriLambda Nano-XRM – 40 nm hochauflösendes Röntgenmikroskop
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TriLambda Nano-XRM – 40 nm hochauflösendes Röntgenmikroskop

von SIGRAY

Sigray stellt mit dem TriLambda40™ das höchstauflösendste Computertomographiesystem der Welt – abseits der Synchrotronaufbauten – vor. Neben einer räumlichen Auflösung von bis zu 40 nm bietet das Tri­Lambda40™ noch die Möglichkeit verschie­dene Energielevels für die unterschiedlichen experimentellen Anforderungen zu wählen.

Weitere Informationen

Das TriLambda40™ richtet sich gezielt an Forschungsgruppen, die ihre XRM-Experimente an einem Synchrotron durchführen müssen und durch Wartezeiten auf Beamtime eingeschränkt sind. Die Vorteile von TriLambda40™ auf einen Blick:

  • Höchste Auflösung 3D XRM, mit 40 Nanometer Ortsauflösung
  • Zum Patent angemeldete Röntgenquelle mit mehreren Röntgenquellen-Zielmaterialien für einzigartige Vorteile, einschließlich Dual Energy Imaging und Optimierung der Erfassungsgeschwindigkeit.
  • Optimierter Durchsatz für zeitbasierte (4D) & in-situ Studien
  • Entwickelt von den weltweit führenden Experten für Röntgenmikroskope.

Basierend auf der Entwicklung einer neuartigen Multi-Target Mikrofokus-Röntgenröhre und eigenentwickelten, speziellen Röntgenoptiken erreicht das System eine Auflösung und Sensitivität, die mit Ergebnissen an einem Synchrotron vergleichbar sind. Bis zu drei Energiestufen können in dem System vereint werden, wie z. B.:

  • 8 keV (für metallische Proben und Halbleitermaterialien)
  • 6,4 keV (für keramische Materialien)
  • 5,4 keV (für Gesteinsproben, eingefärbte Zellproben und Knochen)
  • 2,7 keV (für nicht eingefärbte Zellproben)

Spezifikation

Parameter

Specification

High resolution mode

Resolution

40 nm

Voxel

13 nm

Field of view

18 μm

Sample size

15 - 25 μm preferred

Large field of view mode

Resolution

120 nm

Voxel

40 nm

Field of view

60 μm

Sample size

60 - 100 μm preferred

Contrast mode

Absorption and phase contrast

Source

Sigray high brightness microfocus source

 

Target material

Dual energy (standard):

Cr (5.4 keV) and Cu (8.0 keV) Additional targets include:

Fe (6.4 keV), Au (9.7 keV),

others available on request

Power

100 W

X-ray optics

Condenser

2 sets of Sigray twin paraboloidal x-ray optics matched to zone plates

Focusing objective

Fresnel diffraction zone plate lens system

Phase ring

Zernike phase shift ring

X-ray detectors

High efficiency x-ray detector sys- tem, CCD 2048 x 2048 pixel

Footprint [L x W x H]

2.3 x 1.3 x 1.5 m, 2000 kg

Maximum load

1 kg

Stage

High precision tomography stage with 12 x 10 x 12 mm travel XYZ

Downloads

TriLambda-40
TriLambda-40
Synchrotron Beamline Capabilities
Synchrotron Beamline Capabilities

Kontakt

Dr. Andreas Bergner
Dr. Andreas Bergner

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Im Tiefen See 58
64293 Darmstadt
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Andreas BergnerProdukt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
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