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AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen

von GETec

Mit dem AFSEM-Rasterkraftmikroskop (AFM)  können zwei der leistungsfähigsten Ober­flächen­ana­lyse­me­tho­den, AFM und REM, schnell und einfach miteinander kombiniert werden. Mit nur einem korrelativen System erhält man eine Vielzahl unterschiedlichster Informationen über die zu vermessende Probe. Das AFSEM-Rasterkraftmikroskop ist kompatibel mit den meisten REM- oder REM/FIB-Systemen und wird direkt in ein vorhandenes REM implementiert. Alle REM-Messmethoden bleiben dabei erhalten. AFSEM verwendet andere gängige Analysemethoden wie FIB, FEBID und EDX.

Eigenschaften
  • Abmessungen 41 x 110 x 77 mm³ (H x L x B)
  • Gewicht 500 g
  • Scan-Bereich 35 x 35 µm² Closed-loop für xy; 5 µm für z
  • HV-Kompatibilität 1 x 10-6 mbar
  • Scan Mode AC & Contact Mode
31. März 2020  - 03. April 2020 Munich, Germany / Hall A2, Booth 324

Analytica

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Weitere Informationen

Standardmäßig arbeitet das AFSEM im AC- und Kontakt-Modus. Es erlaubt zudem Phasenkontrast- und Kraft-Abstand-Spektroskopie. Die Wahl spezieller Cantilever ermöglicht zusätzliche Modi wie z. B. Leitfähigkeitsmikroskopie.

Das System ist denkbar einfach zu bedienen. Über eine 3-Achsen-Positioniereinheit wird der Cantilever des AFSEM in das Scanfeld des REM gebracht. Danach wird die Probe, wie für REM-Messungen, lateral über die Probenstage des Elektronenmikroskops positioniert.

Sehen Sie sich das Video an und erhalten Sie einen Einblick in die Welt von AFSEM. Diese neuartige Technik ermöglicht es Ihnen, einzigartige Experimente mit Ihrem REM, Dual-Beam oder Lichtmikroskop durchzuführen.

Anwendungen

In-situ AFM-Analyse Die Kombination des AFSEM mit einem REM ermöglicht es, die Probe gleichzeitig mit hoher Auflösung zu charakterisieren und 3D-Profile zu erstellen; außerdem liefert es exakte Höheninformationen. Das große Betrachtungsfeld des REM wird verwendet um die Tastspitze des AFM genau dort zu platzieren, wo gemessen werden soll.
Korrelative REM-/AFM- Analyse Das AFSEM erlaubt die schnelle und einfache Untersuchung derselben Probenposition (Region of Interest oder RoI). Da das AFSEM in ein REM integriert ist, misst es die Probe unter den gleichen Voraussetzungen. Das REM wiederum positioniert das AFSEM genau dort, wo gemessen werden soll. So erhält man verlässliche und aussagekräftige Informationen über die zu vermessende Probe.

Downloads

Analysis of tensile stress samples - Application Note
Analysis of tensile stress samples - Application Note
In-situ bone analysis - Application Note
In-situ bone analysis - Application Note
Nanoindentation analysis - Application Note
Nanoindentation analysis - Application Note
Conductive analysis - Application Note
Conductive analysis - Application Note
AFSEM - SEM compatibility list
AFSEM - SEM compatibility list
AFSEM - Correlated in-situ AFM & SEM & EDX analysis
AFSEM - Correlated in-situ AFM & SEM & EDX analysis

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Dr. Andreas Bergner
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Andreas BergnerProdukt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
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