Echelle-Spektrograph
Unser PartnerAndor Oxford Instruments

Echelle-Spektrograph

Mechelle 5000 von Andor Technology
Patentgeschütztes optisches Echelle-Design mit einem spektralen Durchlassband von 200 nm bis 975 nm und einer spektralen Auflösung von λ/Δλ = 5000. Der Mechelle-Spektrograph von Andor stellt den gesamten Bereich in einem einzigen zweidimensionalen Bild dar und erfasst automatisch das Spektrum. Das System arbeitet vollständig ohne bewegliche Teile.Eigenschaften
  • Kompakte und robuste Bauweise
  • Patentgeschütztes optisches Design
  • Automatische Temperaturkompensation
  • N2-Schutzgas
  • Vorjustierter Detektor/Spektrograph

Weitere Informationen

Der neue Echelle-Spektrograph Mechelle ME5000 von Andor ist für die gleichzeitige Aufzeichnung eines breiten Wellenlängenbereichs (200-975 nm) in einem einzigen Erfassungsvorgang konzipiert. Das Gerät hat keine beweglichen Teile und steht in einem vorjustierten Detektor/Spektrometer-Format zur Verfügung. Der Mechelle-Spektrograph von Andor basiert auf der Hauptlinie des Echelle-Gitters und bietet dank seines patentgeschützten optischen Aufbaus extrem niedrige Nebensprecheffekte und hohe Auflösung verglichen mit anderen Spektrographen.

Spezifikation

Anwendungen

Absorptions-, Transmissions-, Reflexionsmessungen
Einzelmolekül-Spektroskopie
Fluoreszenzuntersuchungen
Hyperspektrale Bildgebung
Mikro-Raman und Mikro-Fluoreszenz
Laserinduzierte Plasma/Breakdown Spektroskopie (LIBS)

Downloads

Pen-ray line sources for wavelength calibration
Pen-ray line sources for wavelength calibration
Software for Andor cameras and spectrographs
Software for Andor cameras and spectrographs
Spectroscopy solutions brochure
Spectroscopy solutions brochure

Referenzkunden

TitleAuthor(s)InstituteYearSpectrograph/
Detector
Laser induced breakdown spectroscopy
Automated 2D elemental mapping by laser-induced breakdown spectroscopyG. Cairns1,
J. Kaiser2
1Andor Technology, Belfast, United Kingdom
2Institute of Physical Engineering, Brno University of Technology, Czech Republic
2014

Mechelle ME5000
iStar DH734i-18F-031

Application of an Echelle spectrometer for 2D mapping of aluminum alloy surfaces using MicroLIBSM.T. Taschuk1, M. Tripathi2, A. Hanvey3, R. Al-Wazzan3, Y.Y. Tsui1 and R. Fedosejevs11 Department of Electrical and Computer Engineering, University of Alberta, Edmonton, Canada,
2 Andor Technology, S. Windsor, USA ,
3 Andor Technology, Belfast, United Kingdom
2007

Mechelle ME5000
iStar DH734-18U-131

Remark:
1iStar 734 replaced by iStar 334

Kontakt

Olaf Koschützke
Olaf Koschützke
Markus Krause
Markus Krause
Dr. Thorsten Pieper
Dr. Thorsten Pieper

Kontakt

Quantum Design GmbH

Im Tiefen See 58
64293 Darmstadt
Germany

Telefon:+49 6151 8806-0
Fax:+49 6151 8806920
E-Mail:germany@qd-europe.com
Cookie Hinweis Cookies helfen uns bei der Bereitstellung unserer Dienste. Wenn Sie unsere Dienste nutzen, stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu. Datenschutzhinweise
Olaf KoschützkeProdukt Manager - Andor - Schleswig-Holstein, Hamburg, Bremen, Niedersachsen, Nordrhein-Westfalen, Mecklenburg-Vorpommern
+49 6151 8806-43
koschuetzke@qd-europe.com

Markus KrauseProdukt Manager - Andor - Berlin, Brandenburg, Sachsen-Anhalt, Sachsen, Thueringen, Hessen, Rheinland-Pfalz, Saarland
+49 6151 8806-558
krause@qd-europe.com

Thorsten PieperProdukt Manager - Andor - Bayern, Baden-Wuerttemberg, Österreich
+49 6151 8806-754
pieper@qd-europe.com