Wir freuen uns darüber berichten zu können, dass unsere Kollegen erfolgreich ein FusionScope-System in der renommierten Forschungsgruppe von Prof. Andrea C. Ferrari am Cambridge Graphene Centre installiert haben. Ferraris Gruppe ist international führend in der Grundlagen- und Anwendungsforschung zu zweidimensionalen Materialien, insbesondere Graphen, Übergangsmetall-Dichalkogeniden (TMDs – engl.: Transition-metal dichalcogenide) und anderen Materialien jenseits von Graphen. Ein zentrales Ziel der Gruppe ist es, die elektronische, optische und mechanische Charakterisierung dieser Materialien mit höchster Präzision durchzuführen, insbesondere im Hinblick auf ihre Integration in zukünftige photonische, optoelektronische und nanoelektronische Bauelemente.
Das FusionScope wird innerhalb dieser Forschungsagenda eine zentrale Rolle einnehmen. Die Kombination aus Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM) in einem integrierten System eröffnet der Gruppe neue Möglichkeiten zur simultanen Analyse von Topografie, Struktur und Zusammensetzung auf der Nanometerskala. Besonders nützlich ist dabei die Fähigkeit des FusionScope, die AFM-Cantileverspitze mittels SEM präzise positionieren zu können.
In den kommenden Monaten wird das FusionScope zur Charakterisierung von Heterostrukturen aus 2D-Materialien eingesetzt. Darüber hinaus sind Untersuchungen geplant, bei denen lokale elektrische Eigenschaften in Korrelation mit topografischen und strukturellen Daten gemessen werden, etwa zur Aufklärung von Ladungstransportmechanismen in Graphen-basierten Bauelementen.
Die Installation des FusionScope markiert damit nicht nur einen bedeutenden technologischen Zugewinn für die Gruppe von Prof. Ferrari, sondern unterstreicht auch die zunehmende Bedeutung korrelativer Hochauflösungsmethoden in der Nanoforschung. Mit seiner kompakten Bauweise, der Neigefunktion der Probenbühne und der nahtlosen Integration verschiedener Analysetechniken bietet das FusionScope hierfür eine vielseitige Plattform ideal abgestimmt auf die interdisziplinären Herausforderungen moderner Materialwissenschaften.

Mehr über die bedienerfreundliche korrelative AFM/SEM-Mikroskopie-Plattform