Brewsterwinkel-Mikroskop MicroBAM

von KSV NIMA

Das Brewsterwinkel-Mikroskop KSV NIMA MicroBAM ist ein anwenderfreundliches, einfach zu bedienendes Einstiegsgerät für die nicht invasive Bildgebung von monomolekularen Schichten an der Luft-Wasser-Schnittstelle. Die überragende Bildqualität und gute laterale Auflösung macht dieses Gerät zur idealen Lösung für die Visualisierung morphologischer Schichtparameter (z.B. Homogenität des komprimierten Films, Domänengröße, -form und -dichte). Eine Echtzeitbeobachtung und Aufzeichnung der Schichtstruktur ermöglicht die Erfassung der dynamischen Aktivität.

Eigenschaften
  • Visualisierung von Monoschichten
  • Abbildung von Monoschichten

Weitere Informationen

Das KSV NIMA MicroBAM kann mit der Mehrzahl der KSV-NIMA-Langmuir- und Langmuir-Blodgett-Tröge für automatische Bildmessungen als Funktion der Zeit und des Oberflächendrucks kombiniert werden. Das Geräte lässt sich leicht einrichten, die Einstellung der Messkopfhöhe erfolgt manuell hoch präzise. Das Instrument hat eine Sicherheitsverriegelung für den Laser.

Das KSV NIMA MicroBAM kann auch in Verbindung mit den Langmuir- und Langmuir-Blodgett-Trögen anderer Hersteller und, als Stand-Alone-System, mit freistehenden Gefäßen eingesetzt werden. Zur Ansteuerung wird das System über einen USB-Anschluss direkt an einen Rechner angeschlossen und ist somit einfach einzurichten und zu bedienen.

Spezifikationen

KSV NIMA MicroBAM

  • Auflösung 12 µm

  • Erfassen und Speichern von Standbildern und Echtzeit-Videoaufnahmen von Monoschichten

  • Kompaktes Design, geringer Platzbedarf

  • Einfache, intuitive Bedienung

  • Inklusive Imaging- und Steuerungssoftware

  • Erfordert PC oder Notebook (Windows Betriebssystem mit USB-Anschluss)

  • Kompatibel mit den meisten Langmuir-Trögen und Langmuir-Blodgett-Trögen

  • Kann als Stand-Alone-Instrument verwendet werden

Anwendungen

Biomembran
Nanopartikel
Graphene
Grenzflächenaktive Substanzen
Grenzflächenreaktionen
Kolloide

Downloads

Brewster Angle Microscope MicroBAM

Videos

MicroBAM Characterization of thin films KSV NIMA

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