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Diffractomètre électronique pour nanocristaux - ELDICO ED-1

Eldico Scientific

L’ELDICO ED-1 est le premier diffractomètre électronique horizontal spécifiquement dédié à l’analyse structurelle des nanocristaux. Conçu dans un souci de flexibilité, il est équipé d'un goniomètre de pointe, et offre une distorsion réduite et une automatisation avancée pour déterminer la structure des cristaux présents dans les échantillons analysés.

Caractéristiques

Trajet horizontal du faisceau pour une qualité optimale des données et une réduction des écarts systématiques
Énergie des électrons : 160 keV - idéale pour la diffraction électronique 3D haute résolution (3D-ED)
Goniomètre 5 axes haute précision avec plage de rotation de 140°
Détecteur de pixels hybride (DECTRIS QUADRO) pour une acquisition rapide et sensible des données
Prise en charge de la cryomesure - idéal pour les échantillons sensibles ou sensibles aux rayonnements
Calibrage automatisé et utilisation conviviale
Faisceau d'électrons à faible dose pour les matériaux délicats
Conception compacte et horizontale pour une intégration parfaite dans les environnements de laboratoire

Plus d'informations

The ELDICO ED-1 represents a paradigm shift in electron diffraction. While conventional TEM-based approaches were not originally designed for diffraction experiments, the ED-1 was built from the ground up for that specific purpose.

The horizontal beam path provides a highly stable and reproducible measurement environment, minimizing deviations in diffraction data and enabling highly accurate structure solutions. The combination of a dedicated diffractometer design, precise sample positioning, and a high-performance hybrid pixel detector allows resolutions down to 0.84 Å – even for nanocrystals as small as 10 – 1000 nm.

This opens up new possibilities for structural analysis in cases where traditional methods such as X-ray crystallography or powder diffraction reach their limitations.

Modèles

ELDICO ED-1

Currently, the ELDICO ED-1 is available as a standalone system.
Optional upgrades and extensions include:

Cryogenic cooling modules for sensitive samples
Advanced software modules for data analysis
In-situ stages and custom sample holders

Caractéristiques techniques

ELDICO ED-1 – Specifications
Parameter	Value
Electron energy	160 keV
Sample range	10 – 1000 nm
Resolution	up to 0.84 Å
Goniometer	5-axis system
Rotation range	140°
Detector	DECTRIS QUADRO hybrid pixel detector
Beam dose	Low-dose mode available
Calibration	Fully automated
Cryo support	Optional
Design	Horizontal
Software	Intuitive interface with automated data processing

Applications

The ELDICO ED-1 is designed for a wide range of advanced research and industrial applications, especially where sample size or sensitivity makes conventional X-ray methods unsuitable:

Pharmaceutical research: Polymorph analysis and structural determination of new APIs
Materials science: Analysis of complex oxides, semiconductors, and energy storage materials
Chemical industry: Catalyst development and structural identification of intermediates
Biogenic materials: Investigation of natural nanocrystals (e.g., guanine in biological structures)
Academic research: Fundamental studies in crystallography and materials design

Experimental results demonstrate that unit cell parameters can be determined with deviations of less than 0.36 % compared to literature values — highlighting the system’s exceptional precision.