Plate-forme de microscopie corrélative AFM/SEM facile à utiliser

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Une plate-forme – Plusieurs applications.

FusionScope est une plate-forme de microscopie corrélative facile à utiliser conçue dès le départ pour ajouter les avantages de l'imagerie SEM à une large gamme de techniques de mesure AFM.

Doté d'un système de coordonnées partagé innovant pour aligner automatiquement les opérations AFM et SEM pour les mesures et le positionnement de l'échantillon, dans une seule interface logicielle, vous pouvez désormais facilement identifier votre zone d'intérêt, mesurer votre échantillon et combiner vos données d'imagerie en temps réel.

Obtenez une caractérisation détaillée des matériaux de vos échantillons, y compris les propriétés structurelles, mécaniques, électriques et magnétiques. Effectuez un contrôle qualité de haut niveau des pièces fabriquées ou effectuez une analyse des défaillances sur les composants électriques ou les dispositifs à semi-conducteurs. Caractérisez facilement les nanostructures telles que les nanofils, les matériaux 2D et les nanoparticules. FusionScope vous donne un contrôle total pour localiser votre zone d'intérêt, positionner votre sonde et effectuer une large gamme de mesures.

Basculez entre une résolution AFM inférieure au nanomètre et une imagerie SEM d'un simple clic sur un bouton pour extraire les données souhaitées. FusionScope est capable de prendre en charge la plupart des modes de mesure AFM standard, y compris les modes contact, dynamique et FEU. Les cantilevers interchangeables fournissent facilement des modes avancés, tels que l'AFM conducteur (C-AFM) et la microscopie à force magnétique (MFM).

Découvrez le FusionScope sur notre site dédié www.fusionscope.com

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