Ellipsométrie

L'ellipsométrie, l'ellipsométrie monochromatique et l'ellipsométrie spectroscopique sont des techniques permettant de déterminer l'épaisseur et les constantes optiques de films minces ou de ... plus 

L'ellipsométrie, l'ellipsométrie monochromatique et l'ellipsométrie spectroscopique sont des techniques permettant de déterminer l'épaisseur et les constantes optiques de films minces ou de substrats. Un ellipsomètre, monochromatique ou spectroscopique, mesure la variation de polarisation par réflexion (ou en transmission dans le cas d'échantillons anisotropes).

Nous offrons une large gamme d'ellipsomètres spectroscopiques pour s'adapter à chacune de vos applications. L'ellipsomètre VASE, basé sur un monochromateur à balayage, couvre la plus large gamme spectrale disponible : de 140 nm à 3,2 µm. Il est conseillé pour toutes les applications en recherche et R & D, seul ou en combinaison avec l'IR-VASE (1,7 µm à 30 µm). Les ellipsomètres rapides à base d'un capteur CCD viennent compléter les VASE et IR-VASE. A compensateur tournant simple (M2000 et Alpha-SE) ou double (RC2), ces ellipsomètres sont préconisés pour les mesures ex-situ (goniomètre avec porte-échantillons manuels ou automatisés) ainsi que pour les applications in situ (fixation directe sur bâti  de dépôt ou à travers une cellule liquide ou environnementale).

Ellipsométrie - Short introduction: Ellipsometry
Short introduction: Ellipsometry

What is Ellipsometry? This brief introduction to ellipsometry is targeted to the novice and provides a fundamental description of ellipsometry measurements and typical data analysis procedures. The ...


Ellipsométrie - Fast Mapping theta-SE
Fast Mapping theta-SE

The theta-SE is a push-button spectroscopic ellipsometer for characterizing thin film uniformity. It features advanced ellipsometry instrumentation in a compact package at an affordable price.


Ellipsométrie - Ellipsomètre spectroscopique in-situ iSE
Ellipsomètre spectroscopique in-situ iSE

The iSE is a new in-situ spectroscopic ellipsometer developed for real-time monitoring of thin film processing.  Using our proven technology, the iSE enables users to optimize optical properties of ...


Ellipsométrie - M-2000 Ellipsomètre spectroscopique de référence
M-2000 Ellipsomètre spectroscopique de référence

L'ellipsomètre Woollam M-2000™ combine la méthode RCE (Rotating Compensator) avec une acquisition rapide par détection CCD. Cela permet des mesures quasi-instantanées avec, par exemple, 390 longueurs ...


Ellipsométrie - RC2 Ellipsomètre spectroscopique à double compensateur tournant
RC2 Ellipsomètre spectroscopique à double compensateur tournant

L'ellipsomètre Woollam RC2™ est le premier ellipsomètre spectroscopique comportant deux compensateurs tournants. Il combine la polyvalence et les excellentes performances du M-2000™ et inclut une ...


Ellipsométrie - Alpha-SE Ellipsomètre spectroscopique compact
Alpha-SE Ellipsomètre spectroscopique compact

L'ellipsomètre Woollam Alpha-SE™ est un instrument compact et simple d'usage. Comme son grand frère, le très fréquent et modulaire M-2000™, l'Alpha-SE™ combine la méthode RCE (Rotating Compensator) ...


Ellipsométrie - VASE Ellipsomètre spectroscopique combinant large gamme spectrale et grande résolution spectrale
VASE Ellipsomètre spectroscopique combinant large gamme spectrale et grande résolution spectrale

Le VASE est l'ellipsomètre spectroscopique le plus résolvant et le plus modulaire des ellipsomètres pour la recherche. Il s'applique à tous les types de matériaux : semiconducteurs, diélectriques, ...


Ellipsométrie - Spectroscopic ellipsometer for Vacuum Ultra Violet: VUV-VASE
Spectroscopic ellipsometer for Vacuum Ultra Violet: VUV-VASE

The VUV-VASE variable angle spectroscopic ellipsometer is the standard in optical characterization of materials used in lithography applications. Its measurement range spans vacuum ultraviolet (VUV) ...


Ellipsométrie - IR-VASE Ellipsomètre spectroscopique Infra-Rouge
IR-VASE Ellipsomètre spectroscopique Infra-Rouge

L'IR-VASE est le premier et l'unique ellipsomètre spectroscopique à couvrir une si large gamme spectrale Infra-Rouge de 1,7 µm à 30 µm (333 à 5900 nombre d'onde). L'IR-VASE peut mesurer à la fois n et ...


Ellipsométrie - Ellipsometer for texture Si solar cells T-Solar
Ellipsometer for texture Si solar cells T-Solar

L'ellipsomètre Woollam T-Solar™ est un M-2000™ dont l'intensité lumineuse a été optimisée en vue de la caractérisation des wafers Silicium texturés. Comme le M-2000™, il combine la méthode RCE ...

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