Nuovo ellissometro alpha 2.0 di J.A. Woollam

Sulla base del suo predecessore di successo alpha-SE, il nostro partner J.A. Woollam ha recentemente lanciato il nuovo ellissometro alpha 2.0, una soluzione economica e dal design estremamente compatto per misure di routine di spessore e indice di rifrazione di film sottili.

L'alpha 2.0 è uno strumento di facile impiego ma che sfrutta al tempo stesso tutta la potenza dell'ellissometria spettroscopica. I risultati delle misure possono essere ottenuti con pochi passaggi: posizionare e allineare il campione sullo stage, scegliere il modello più adatto per il campione e fare clic su “Misura”.

I risultati saranno disponibili in pochi secondi.

Lo strumento lavora con il potente software Woollam CompleteEASE e consente l'analisi anche dei campioni più complessi permettendo di determinare lo spessore e le costanti ottiche del film e altre proprietà di interesse generalmente determinate mediante l’ellissometria spettroscopia.

Caratteristiche ellissometro alpha 2.0:

• Range spettrale: 400 -1000 nm
• Misure ad angolo variabile: 65°, 70°, 75° (in riflessione) e 90° (in trasmissione)
• Acquisizione spettroscopica multicanale tramite detector CCD: misura contemporaneamente 190 lunghezze d’onda
• Velocità di acquisizione: 5-10 s per lo spettro completo (typical)
• Sistema automatico di allineamento in Z del campione
• Sistema di focalizzazione dello spot integrato (spot size < 1mm)
• Design ottico: Dual-Rotation Ellipsometer (compensatore e analizzatore rotanti)
• Misura campioni con diametro fino a 200 mm e con spessore fino a 16 mm

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