Hitachi High Technologies nella microscopia elettronica

La Hitachi è presente anche nel mercato della microscopia elettronica dal 1939. I suoi laboratori all’avanguardia hanno da sempre sviluppato prodotti estremamente competitivi, permettendo all’azienda di offrire da sempre una gamma di prodotti che copre ogni esigenza in termini di microscopia elettronica.

Partiamo con la strumentazione per la preparativa dei campioni. ArBlade 5000 e IM4000Plus sono i dispositivi per lavorare i campioni tramite fresatura ionica. ZONESEM II e ZONETEM invece prevengono le contaminazioni esterne. Infine c’è lo ion sputterMC1000 per facilitare l’analisi dei campioni non conduttivi.

 

Per quanto riguarda i SEM, la Hitachi con la serie TM è stata la prima ad introdurre i SEM da banco di piccola taglia. Nella filosofia di Hitachi, essi sono pensati come strumenti che chiunque può usare, facilmente installabili e dal prezzo contenuto. La Hitachi non si limita solo ai SEM da banco e offre anche modelli più avanzati, dal FlexSEM fino ad arrivare al SU9000: microscopio con sorgente ad emissione di campo ad ultra alta risoluzione (< 1 nm).

FIB-SEM NX5000 Hitachi High Technologies

Quando la tecnologia del SEM viene accoppiata anche con quella FIB, nascono i sistemi SEM-FIB di Hitachi. La preparazione dei campioni diventa più veloce ed intuitiva, precisa a scala nanometrica, e virtualmente priva di artefatti. Modelli di punta da annoverare sono sicuramente il NX5000 e il NX2000, con sorgente di elettroni ad emissione di campo e sistema a fascio triplo. Il SEM Hitachi viene anche abbinato anche a dispositivi nanoprobes, per creare il Nano-probing System NE4000 nanoEBAC, finalizzato all’analisi EBAC.

TEM HT7800 Hitachi High Technologies

 

Infine i TEM. Sono poche le aziende rimaste nel mondo capaci di commercializzarne dei modelli. L’offerta di Hitachi anche stavolta è vasta, si inizia con i modelli a sorgente termoionica H-9500 e HT7800, dal design innovativo pensato per il numero più vasto possibile di applicazioni. Successivamente il HF-3300 ad emissione di campo, che consente di misurare simultaneamente gli elettroni secondari. Seguono i modelli con correttore delle aberrazioni, quali il HD-2700 e il HF5000: modello di punta che raggiunge una risoluzione di 0.078 nm.

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