Microscopia Correlativa - Raman/AFM/SNOM/SEM

Microscopia Correlativa - Raman/AFM/SNOM/SEM - AFSEM - microscopia correlativa: AFM e SEM
AFSEM - microscopia correlativa: AFM e SEM

Il sistema AFSEM consente di combinare le possibilità del SEM con quelle della microscopia a forza atomica (AFM). Il dispositivo AFSEM è compatibile con la maggior parte dei sistemi SEM e FIB/SEM ...


Microscopia Correlativa - Raman/AFM/SNOM/SEM - Sistema combinato Raman-AFM
Sistema combinato Raman-AFM

Il microscopio alpha300 RA è stato il primo sistema commerciale ad integrare le tecniche di Imaging Raman confocale e microscopia a forza atomica (AFM) in un'unica piattaforma, e continua tuttora a ...


Microscopia Correlativa - Raman/AFM/SNOM/SEM - Sistema combinato Raman-SNOM
Sistema combinato Raman-SNOM

Il sistema alpha300 RS combina in un unico strumento tutte le caratteristiche dei microscopi alpha300 R e alpha300 S, eseguendo sia misure di Imaging Raman Confocale che misure di microscopia ottica ...


Microscopia Correlativa - Raman/AFM/SNOM/SEM - Sistema "all-in-one" Raman, AFM e SNOM
Sistema "all-in-one" Raman, AFM e SNOM

Il microscopio alpha300 RAS combina in un unico sistema le tecniche di Raman Imaging, AFM e SNOM fornendo uno strumento incredibilmente flessibile per la caratterizzazione di campioni di varia natura ...


Microscopia Correlativa - Raman/AFM/SNOM/SEM - Sistema combinato per Imaging Raman e Microscopia Elettronica a Scansione (Raman-SEM)
Sistema combinato per Imaging Raman e Microscopia Elettronica a Scansione (Raman-SEM)

Il primo vero sistema al mondo che integra misure di Imaging Raman confocale e misure di Microscopia Elettronica a Scansione (SEM), aprendo le porte ad nuova tecnica di microscopia correlativa: RISE ...


Microscopia Correlativa - Raman/AFM/SNOM/SEM - Sistema di profilometria per Imaging Raman su superfici rugose e/o non piane
Sistema di profilometria per Imaging Raman su superfici rugose e/o non piane

Il Sistema di microscopia TrueSurface della WITec, vincitore di diversi premi R&D 2011, permette di eseguire misure di Imaging Raman confocale ad altissima risoluzione anche su superfici estremamente ...

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