Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM)

I sistemi FIB-SEM vengono impiegati come macchine utensili che permettono di modificare e lavorare i campioni su scala micro e nanometrica. Essi sono diventati uno strumento indispensabile per la ... più 

I sistemi FIB-SEM vengono impiegati come macchine utensili che permettono di modificare e lavorare i campioni su scala micro e nanometrica. Essi sono diventati uno strumento indispensabile per la caratterizzazione e l'analisi microscopica dei materiali avanzati per le più recenti tecnologie.

Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM) - MI4050 - Focused Ion Beam System
MI4050 - Focused Ion Beam System

Il sistema di fascio ionico focalizzato ad alte prestazioni MI4050 è dotato di nuove ottiche che offrono immagini SIM (Scanning Ion Microscope) ad una risoluzione riconosciuta a livello mondiale. ...


Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM) - NX2000 - Focused Ion and Electron Beam System & Triple Beam System
NX2000 - Focused Ion and Electron Beam System & Triple Beam System

Una domanda sempre crescente di lamelle TEM ultrasottili prive di artefatti richiede il meglio delle tecnologie di ottica ionica ed elettronica. Puntando al sistema di preparazione del campione TEM ...


Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM) - NX9000 - Real-time 3D analytical FIB-SEM
NX9000 - Real-time 3D analytical FIB-SEM

NX9000, il nuovo sistema FIB-SEM di Hitachi, incorpora un layout ottimizzato per un vero sezionamento seriale ad alta risoluzione che risponde alle ultime esigenze in termini di analisi strutturali 3D ...


Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM) - Ethos NX5000 - Il sistema a fascio ionico focalizzato
Ethos NX5000 - Il sistema a fascio ionico focalizzato

Hitachi Ethos FIB-SEM incorpora il FE-SEM di ultima generazione con un fascio di luminosità e di stabilità eccezionali. Ethos permette di visualizzare il campione e di lavorarlo su scala nanometrica, ...


Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM) - Micro-sampling System
Micro-sampling System

Questo dispositivo viene utilizzato per preparare la parte di wafer desiderata per l'analisi con STEM, TEM, ecc. Si estrae una porzione microscopica del campione che, una volta montata sul ...

Contatti

Quantum Design s.r.l.

Via Francesco Sapori, 27
00143 Roma
Italy

Telefono:+39 06 5004204
Fax:+39 06 5010389
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