Ellissometro Spettroscopico T-Solar per celle solari al Silicio
da Woollam Co.T-Solar è una versione speciale dell'M-2000 ottimizzata per rispondere alle particolari necessità di misura su superfici texturizzate di Silicio.
Caratteristiche
- Spessore dello strato di SiN di wafer di Si texturizzati
- Tecnologia a compensatore rotante (RCE)
- Intensit
Maggiori informazioni
L'ellissometro T-Solar è uno strumento sviluppato specificatamente per la misura di campioni texturizzati nell'industria fotovoltaica. Basandosi sulla consolidata tecnologia a compensatore rotante dell'M-2000, il T-Solar misura centinaia di lunghezze d'onda contemporaneamente nel range UV-VIS-NIR. Per garantire accuratezza e prestazioni nella misura di superfici altamente rugose tipiche del Silicio texturizzato, che riducono significativamente la riflettività del campione, T-Solar impiega una sorgente ad alta intensità in combinazione con un sistema brevettato di ottimizzazione automatica dell'intensità della lampada (Intensity Optimizer). Il sistema, inoltre, è dotato di un particolare e brevettato stage porta-campione in grado di ruotare e tiltare il campione per consentire l'allineamento delle facce delle piramidi presenti sulla superficie texturizzata del Silicio monocristallino, ed aumentare così la riflettvità della superfice durante la misura.
Specifiche
- Range spettrale:
245-1000 nm (470 lunghezze d'onda) - Ruota porta-filtri automatizzata per l'ottimizzazione dell'intensità su qualsiasi campione
- Stage porta-campione tiltabile (0-60°) e ruotabile (0-360°) per la misura ottimizzata della superficie texturizzata del Silicio monocristallino
- Focusing probes rimuovibili
- Goniometro motorizzato a geometria orizzontale con range di angoli di incidenza 45°-90°
Applicazioni
Substrati texturizzati
Il T-Solar è stato sviluppato specificatamente per la misura dei coating AR su substrati texturizzati. Sia il texturing che il coating AR tendondo a ridurre drasticamente la riflettività della superficie, rendendo qualsiasi caratterizzazione ottica molto difficile.
Il texturing prodotto da un bagno alcalino sulla superficie del silicio monocristallino è caratterizzato da un pattern regolare con strutture piramidali le cui facce seguono specifiche direzioni cristalline del silicio. Per misurare una siffatta superficie è necessario impiegare una particolare geometria di misura che il T-Solar garantisce grazie al suo stage porta-campione brevettato, in grado di orientare (tramite movimenti di rotazione e tilt) la superficie del campione al fine di allineare il fascio di misura con le facce delle piramidi.
Celle solari al Silicio
Silicio monocristallino
Downloads
ttp://www.ake-pdv.org/
Contatti
Dr.
Stefano
Pergolini
Ellissometro Spettroscopico in-situ iSE
Il Sistema iSE è un nuovo ellissometro spettroscopico in-situ sviluppato per il monitoraggio in tempo reale dei processi su film sottili. Impiegando la comprovata tecnologia Woollam, l’ellissometro ...
Ellissometro Spettroscopico veloce M-2000
L'ellissometro spettroscopico M-2000 combina l'elevata accuratezza della tecnologia a compensatore rotante (RCE) con un'acquisizione spettroscopica multicanale (CCD). Ciò permette un'impareggiabile ...
Ellissometro spettroscopico a doppio compensatore rotante RC2
L'RC2 è il primo ellissometro spettroscopico a doppio compensatore rotante. Alle migliori caratteristiche dei sistemi di generazione precedente abbina una tecnologia completamente nuova: doppio ...
Ellissometro Spettroscopico low-cost e ad alta precisione alpha 2.0
L’alpha 2.0 è un ellissometro spettroscopico low-cost, veloce e robusto per la misura di spessori e costanti ottiche di film sottili. Le dimensioni estremamente compatte lo rendono ideale come ...
Ellissometro spettroscopico VASE
Il VASE è in assoluto l'ellissometro da ricerca più accurato e versatile, perfetto per qualsiasi tipo di materiale: semiconduttori, dielettrici, polimeri, metalli, multi-layer, etc...
Ellissometro spettroscopico VUV-VASE
Il VUV-VASE è l'ellissometro spettroscopico di riferimento per la caratterizzazione ottica di materiali utilizzati in particolare in applicazioni di litografia e industria dei semiconduttori. Il suo ...
Ellissometro FTIR IR-VASE
L'IR-VASE è il primo ed unico ellissometro spettroscopico a coprire il range spettrale tra 1.7 e 30 microns (333-5900 numeri d'onda). L'IR-VASE è in grado di determinare sia la parte reale (n) che la ...
Navigazione
Categorie
Contatti
Quantum Design s.r.l.
Via Francesco Sapori, 27
00143 Roma
Italy
Telefono: | +39 06 5004204 |
Fax: | +39 06 5010389 |
E-mail: | italyqd-europe.com |