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Serie Lightning: riscaldamento e biasing in situ TEM

da DENSsolutions

La serie Lightning per il biasing ed il riscaldamento in situ TEM fornisce informazioni in tempo reale sul campione in un ambiente caratterizzato da un campo elettrico e da un flusso di calore controllabile.

Caratteristiche

Biasing e riscaldamento simultanei (6/8 contatti)
Preparazione FIB e creazione di lamelle su chips (MEMs)
Alte velocità di riscaldamento e stabilità (identiche al Wildfire)
Misure di corrente nel range pA ed intensità del campo elettrico fino a 400 kV/cm
Compatibile con microscopi ThermoFisher e JEOL

Maggiori informazioni

Tutti i sistemi DENSsolutions utilizzano l’innovativa tecnologia brevettata MEMs Nano-Chip

I Nano-Chips sono portacampioni funzionali all’avanguardia basati su sistemi micro-elettro-meccanici (MEMs) che sostituiscono le tradizionali griglie TEM di rame e permettono di controllare a livello locale l’ambiente e gli stimoli applicati al campione. Ogni Nano-Chip crea un ambiente di laboratorio su scala micrometrica all’interno del TEM. Grazie alla loro bassissima massa e al loro minimo consumo energetico, i tempi di risposta sono estremamente rapidi e le prestazioni altamente affidabili.

I Nano-Chips di nuova generazione portano le applicazioni TEM ad un livello superiore. I fenomeni di bulging risultano trascurabili fino a 750 °C, così come i fenomeni di drift. Tale stabilità consente a ricercatori e scienziati di concentrarsi sul proprio esperimento.

Design MEMs unico per una stabilità ottimale: i Nano-Chips sono fabbricati per garantire un ambiente stabile, chimicamente inerte ed elettricamente isolato.

Sorgente di calore: localizzare il riscaldamento o il raffreddamento sulle stesse dimensioni della scala del campione garantisce il massimo controllo, offrendo una temperatura omogenea e massimizzando l’affidabilità della misura.

Controllo della risposta: il software “Impulse” di DENSsolutions è facile da usare e offre diverse modalità operative di profilazione personalizzata, output dei parametri di misura in tempo reale e registrazione completa dei dati.

Risultati affidabili: il robusto feedback della temperatura a circuito chiuso localizzato offre il massimo in termini di stabilità del campione, tempo di risposta della temperatura e accuratezza.

Lunga durata di misura: fino a 90 ore a temperature molto alte o molto basse senza influire sulle prestazioni del microscopio.

Fabbricazione specifica per l’applicazione richiesta: varie opzioni custom per la pellicola di supporto dei Nano-Chips per soddisfare tutti i requisiti applicativi.

Applicazioni

Scienza dei materiali

Studio di proprietà elettriche

Nanostrutture e microstrutture

Presenza di difetti nei materiali

Elettromigrazione

Materiali 2D

Celle solari

Interfacce e superfici

Trattamenti termici e precipitazioni

Downloads

Lightning brochure

Impulse software

Video

DENSsolutions - FIB Lamella Preparation - with comments

Opinioni degli utenti

"Il TEM in situ offre una nuova dimensione negli studi dinamici della struttura di una gamma di materiali tecnologicamente importanti. Il Dipartimento dei materiali di Oxford utilizzerà il portacampioni riscaldante della DENSsolutions in numerosi progetti relativi alla catalisi e ai materiali a bassa densità di carbonio. Abbiamo scelto questa soluzione per la sua stabilità e il controllo senza eguali ".

- Prof. Angus Kirkland, docente in Scienza dei Materiali all’Università di Oxford, Regno Unito.