Sistema combinato Raman-AFM
alpha300 RA WITecIl microscopio alpha300 RA è stato il primo sistema commerciale ad integrare le tecniche di Imaging Raman confocale e microscopia a forza atomica (AFM) in un'unica piattaforma, e continua tuttora a ridefinire gli standard per questa tipologia di strumentazione combinata. L'alpha300 RA somma alle caratteristiche del sistema di Imaging Raman confocale alpha300 R quelle del microscopio AFM alpha300 A, formando un'unico e flessibile strumento capace di imaging chimico ad alta risoluzione e caratterizzazione topografica di superficie su scala nanometrica.
- Combinazione unica di imaging chimico (Raman) e caratterizzazione superficiale su scala nano (AFM)
- Ideale per misure Raman-AFM co-locali e simultanee
- Passaggio da una modalità all'altra tramite semplice rotazione della torretta porta-obiettivi
- Passaggio da una modalità all'altra senza necessità di spostare il campione
- Tutte le caratteristiche del sistema alpha300 R (Raman) e alpha300 A (AFM) in un unico strumento
Maggiori informazioni
Con l'alpha300 RA le due complementari tecniche di imaging (Raman e AFM) sono disponibili all'interno di un singolo strumento senza alcun compromesso in termini di performance delle singole tecniche. Lo strumento è gestito da un unico controller ed un unico software garantendo il massimo dell'affidabilità e della facilità di utilizzo. Il passaggio da una modalità di misura all'altra avviene tramite una semplice rotazione della torretta degli obiettivi e senza necessità di spostare il campione. Il software fornisce in maniera automatica il passaggio dai parametri di controllo di una modalità di misura all'altra e permette un'immediata correlazione fra le immagini Raman, AFM e video.
Il microscopio alpha300 RA rappresenta la soluzione ideale per esperimenti di imaging combinato quali ad esempio TERS (Tip Enhanced Raman Scattering) o misure Raman-AFM simultanee.
L'alpha300 RA offre la possibilità di estensione al modello alpha300 RA+ con le seguenti caratteristiche aggiuntive:
- Stage motorizzato per il posizionamento x, y e z con corsa da 25 mm (optional 50 mm)
- Misure automatizzate di Raman Imaging su aree estese (25 x 25 mm; optional 50 x 50 mm)
- Misure automatizzate multi-area e multi-punto
- Autofocus
Specifiche
Modalità operative Raman:
- Raman spectral imaging: acquisizione di spettri Raman completi ad pixel dell'immagine
- Scansioni planari (x-y) e depth scan (direzione z)
- Image stack: Imaging Raman confocale 3D
- Time series
- Acquisizioni di singoli spettri Raman puntuali
- Ultrafast Raman Imaging (1300 spetri al secondo), opzione disponibile con EMCCD
- Microscopia confocale in fluorescenza
- Microscopia in campo chiaro
- Microscopia in campo scuro (Dark Field), a contrasto di fase e DIC (opzionali)
Modalità operative AFM:
- Contact Mode
- AC Mode (Tapping Mode)
- Digital Pulsed Force Mode (DPFM)
- Lift Mode
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
- Electric Force Microscopy (EFM)
- Phase Imaging
- Spettroscopia di forza (curve force-distanza)
- Nano-Manipolazione/Litografia
- Lateral Force Microscopy (LFM)
- Chemical Force Microscopy (CFM)
Caratteristiche del microscopio ottico integrato:
- Microscopio di grado scientifico con torretta a 6 obiettivi
- Sistema di videocamera a colori ad alta risoluzione
- Illuminazione di tipo Köhler con LED a luce bianca
- Stage con posizionamento manuale del campione tramite viti micrometriche x-y
- Stage piezo per la scansione del campione: range 100 x 100 x 20 μm (altri range disponibili)
- Tavola per smorzamento delle vibrazioni a feedback attivo
Dimensione dei campioni alloggiabili:
- Generalmente fino a 120 mm in x e y, e fino a 25 mm in altezza; sono disponibili adattatori per campioni più grandi
- Software di controllo e analisi WITec SUITE FOUR
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