Sistema combinato Raman-SNOM
alpha300 RS WITecIl sistema alpha300 RS combina in un unico strumento tutte le caratteristiche dei microscopi alpha300 R e alpha300 S, eseguendo sia misure di Imaging Raman Confocale che misure di microscopia ottica in campo prossimo (SNOM) e microscopia AFM. La combinazione delle due tecniche Raman-SNOM consente inoltre di eseguire esperimenti sofisticati di Imaging Raman ad altissima risoluzione (oltre il limite di diffrazione ottica) quali ad esempio misure di Raman Imaging in campo prossimo (nearfield-Raman imaging).
- Combina tutte le caratteristiche dei microscopi alpha300 R (Raman) e alpha300 S (SNOM) in un unico strumento
- Eccellente combinazione di tecniche di imaging ottico (SNOM) e imaging chimico (Raman) ad altissima risoluzione
- Piattaforma ideale per metodologie di imaging combinato quali nearfield-Raman imaging
- Passaggio da una modalità all'altra tramite semplice rotazione della torretta porta-obiettivi
- Passaggio da una modalità all'altra senza necessità di spostare il campione
Maggiori informazioni
Il sistema alpha300 RS può essere esteso alla modalità RS+ con le seguenti caratteristiche addizionali:
- Stage motorizzato per il posizionamento x, y e z con corsa da 25 mm (optional 50 mm)
- Misure automatizzate di Raman Imaging su aree estese (25 x 25 mm; optional 50 x 50 mm)
- Misure automatizzate multi-area e multi-punto
- Autofocus
Specifiche
Modalità di misura Raman:
- Raman spectral imaging: acquisizione di spettri Raman completi ad pixel dell'immagine
- Scansioni planari (x-y) e depth scan (direzione z)
- Image stack: Imaging Raman confocale 3D
- Time series
- Acquisizioni di singoli spettri Raman puntuali
- Ultrafast Raman Imaging (1300 spetri al secondo), opzione disponibile con EMCCD
- Microscopia confocale in fluorescenza
- Microscopia in campo chiaro
- Microscopia in campo scuro (Dark Field), a contrasto di fase e DIC (opzionali)
Modalità di misura SNOM:
- Microscopia ottica in campo prossimo (SNOM): modalità in trasmissione, riflessione e raccolta (collection mode)
- Microscopia confocale: modalità in trasmissione, riflessione e fluorescenza (opzionale)
- Acquisizione di curve forza-distanza (spettrocopia di forza) e luce-distanza
- Illuminazione Fixed-bottom e total internal reflection opzionali
Modalità di misura AFM:
- Contact Mode, Lateral Force Mode, AC resonant Mode, opzionale EFM, MFM, lift Mode, etc...
- Caratterisctiche del microscopio ottico:
- Microscopio di grado scientifico con torretta a 6 obbiettivi
- Sistema di videocamera a colori ad alta risoluzione
- Illuminazione di tipo Köhler con LED a luce bianca
- Stage per posizionamento manuale del campione tramite viti micrometriche x-y
- Stage piezo per la scansione del campione: range 100 x 100 x 20 μm (altri range disponibili)
- Video camera ad alta sensibilità per la visualizzazione del campione e del sensore AFM/SNOM in trasmissione
- Tavola con controllo attivo delle vibrazioni
- Dimensione dei campioni alloggiabili:
- Generalmente fino a 120 mm in x e y, e fino a 25 mm in altezza; sono disponibili adattatori per campioni più grandi
- Software di controllo e analisi WITec Suite FOUR
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