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Spettrografo Echelle

Mechelle 5000 da Oxford Instruments Andor

Il Mechelle 5000 di Oxford Instruments Andor è uno spettrografo con tecnologia Echelle e design ottico brevettato che offre una banda passante da 200nm a 975nm, risoluzione spettrale λ/Δλ = 5000 ed acquisisce l’intero range spettrale in una singola immagine bidimensionale da cui genera automaticamente lo spettro. Il Mechelle 5000 lavora senza parti in movimento.

Caratteristiche
  • Design compatto e robusto
  • Design ottico brevettato
  • Correzione automatica degli effetti dovuti alle variazioni di temperatura
  • Spurgato da N2 per garantire il massimo rendimento nel range UV
  • Sistemi detector/spettrografo pre-allineati

Maggiori informazioni

Il nuovo Mechelle ME5000 di Oxford Instruments Andor è uno spettrografo con tecnologia a reticolo Echelle progettato per la rilevazione simultanea di un ampio range spettrale, [200-975]nm, in una singola acquisizione.

Rispetto ad altri spettrografi, il Mechelle 5000 è basato su un design ottico brevettato per minimizzare il cross-talk e massimizzare la risoluzione spettrale. Il Mechelle 5000 è inoltre caratterizzato dall’assenza totale di parti mobili e, se richiesto con detector, viene fornito come sistema pre-allineato di fabbrica.

Specifiche

Applicazioni

Assorbimento, Trasmissione, Riflessione
Spettroscopia a singola molecola
Fluorescenza
Imaging iperspettrale
Micro Raman and micro fluorescence
Laser generated breakdown spectroscopy (LIBS)

Downloads

Pen-Ray Line sources for wavelength calibration
Software for cameras and spectropgraphs
Spectroscopy solutions brochure

Opinioni degli utenti

Title Author(s) Institute Year Spectrograph/
Detector
Laser induced breakdown spectroscopy
Automated 2D elemental mapping by laser-induced breakdown spectroscopy G. Cairns1,
J. Kaiser2
1Andor Technology, Belfast, United Kingdom
2Institute of Physical Engineering, Brno University of Technology, Czech Republic
2014

Mechelle ME5000
iStar DH734i-18F-031

Application of an Echelle spectrometer for 2D mapping of aluminum alloy surfaces using MicroLIBS M.T. Taschuk1, M. Tripathi2, A. Hanvey3, R. Al-Wazzan3, Y.Y. Tsui1 and R. Fedosejevs1 1 Department of Electrical and Computer Engineering, University of Alberta, Edmonton, Canada,
2 Andor Technology, S. Windsor, USA ,
3 Andor Technology, Belfast, United Kingdom
2007

Mechelle ME5000
iStar DH734-18U-131

Remark:
1iStar 734 replaced by iStar 334

Contatti

Ing. Alessandro Baratti
Ing. Alessandro Baratti

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