Kontaminationslos und zerstörungsfrei – TEM-Untersuchung von Kohlenstoff-basierter Materie

Kontamination, hervorgerufen durch abgebauten Kohlenstoff auf einer Probe, beeinflusst die Qualität der mit einem Elektronenmikroskop aufgenommenen Bilder sehr stark.

In den modernen Transmissionselektronenmikroskopen (TEM) ist die hierfür verantwortliche Quelle meistens die Probe selbst. Dies gilt insbesondere für Proben, die dem Bereich der kohlenstoffbasierenden weicher Materie zuzuordnen sind (carbon-based soft matter). DENSsolutions stellt nun mit ihren Probenheizsystemen für die verschiedensten TEM-Systeme ein geeignetes Mittel zur Vermessung dieser Art von Proben vor, die das Problem einer Kontamination zu vermeiden helfen.

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