Neues für Anwender rund um das Thema „Elektrische Messungen“
Für alle Anwender, die sich mit dem Thema elektrische Messungen, Lock-In etc. beschäftigen, gibt es neue Berichte und Anwendungshilfen. Aktuell stehen drei Berichte zu folgenden Themen zur Verfügung:
- Application Brief „Common-Mode Artifacts in 2D materials with Significant Contact Resistance”
- Application Brief “Compensated Resistance Measurements Using a Lock-In: How to handle Phase Shifts in a Measurement”.
- White Paper “A Practical Approach to Understanding External Noise”
Die Abbildung stammt aus dem Paper „Common-Mode Artifacts“. Sie zeigt eine skizzierte Versuchsanordnung zur elektrischen Charakterisierung eines 2D-Materials mit einem Widerstand von 10 Ohm. Die angenommenen Kontaktwiderstände sind 10 und 20 kOhm. Ein klassischer Versuchsaufbau mit einem Lock-In-Verstärker führt aufgrund des Gleichtakt-Effektes zu einem Fehler von über 90%.
M81-SSM Aufbau
Mit dem M81-SSM hingegen kann die gleiche Probe nahezu fehlerfrei gemessen werden. Hintergrund ist die Verwendung einer ausgeglichenen Stromquelle (BCS-10) und eines Voltmeters (VM-10) mit einem sehr hohem Eingangswiderstand.
Eine ausführliche Diskussion des Messbeispiels finden Sie im oben genannten Applikationsbericht. Dieser und die beiden anderen Berichte können kostenlos von der Homepage unseres Partners Lake Shore Cryotronics heruntergeladen werden oder wir senden sie Ihnen gerne per E-Mail zu.
Bei Fragen zu elektrischen Messungen in AC, DC oder mit Lock-In (auch mehrkanalig) stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung.
