Zusammensetzungs- und Valenzstatusanalyse
im Spurenbereich
Unser Lieferant Sigray hat – basierend auf seiner patentierten durchstimmbaren Multi-Energie- und ultrahellen Röntgenquelle sowie auf seinen hocheffizienten Röntgenoptiken – mehrere Laborsysteme entwickelt, die ähnlich leistungsstark sind wie vergleichbare Synchrotronaufbauten.
Hierzu zählen Systeme für die Röntgenfluoreszenzanalyse (µXRF), Röntgenabsorptionsspektroskopie (XAS), Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (XANES) und Röntgenabsorptionsfeinstrukturanalyse (EXAFS).
Die Methoden XAS, XANES und EXAFS können wichtige Fragen zum chemischen Status der Probe wie z.B. Oxidationsstatus, Bindungssymmetrie, Bindungslängen oder koordinativem Aufbau beantworten. Das XAS-System Quantum Leap bietet einen hohen Probendurchsatz und eine sub-eV-Auflösung, vergleichbar mit der an einem Synchrotron möglichen Auflösung. Somit kann dieses System helfen, Fragestellungen im Bereich der funktionellen Charakterisierung von kritischen Materialien wie Katalysatoren, Batteriematerialien, Kraftstoffmaterialien oder elektronischen Baukomponenten zu klären.
Da es sich um eine zerstörungsfreie Methode handelt, sind sowohl Untersuchungen im Vakuum als auch bei Raumbedingungen denkbar. Ebenfalls möglich sind In-situ-Experimente wie z.B. Untersuchungen des Valenzstatus eines Batteriematerials während der Ladungs-Entladungszyklen. Die mit dem Quantum Leap gewonnenen Ergebnisse könnten dann mit bereits am Synchrotron durchgeführten Messungen verglichen werden. Für weitere Informationen zu den verschiedenen Systemen und deren Möglichkeiten kontaktieren Sie mich bitte.
