Die Auflichtversion des M8 bietet nun auch eine Lösung in der Materialforschung und Qualitätsprüfung.
Mit der motorisierten z-Stage wird die Fokustiefe des Mikroskops über einen definierten Bereich gescannt.Anschließend werden die scharf aufgenommenen Bereiche zu einem einzigen Bild zusammengefügt (Focus Stacking). Die Abspeicherung der Höheninformation der einzelnen Bereiche ermöglicht eine dreidimensionale Oberflächendarstellung des Probenausschnitts.
Einige typische Anwendungen für das System sind die Schadensanalyse und Untersuchung von Kratzern, längeren Bruchkanten und sonstigen tribologischen Verschleißspuren. Ein weiteres Anwendungsfeld bietet sich in der Qualitätskontrolle und Teileprüfung, z.B. von Werkstücken, Platinen oder anderen mechanischen und elektronischen Bauteilen. In Abbildung 3 ist eine Aufnahme mit einem 20x-Objektiv und das daraus generierte Oberflächenprofil eines Widerstands zu sehen.
Typischerweise umfasst das Sichtfeld bei einer 20-fachen Vergrößerung nur wenige 100 µm im Durchmesser und erschwert somit die Analyse von größeren interessanten Regionen auf einer Probe. Die semi-automatisierte Zusammenführung einzelner Bilder stellt hierbei keine wirklich zufriedenstellende Lösung dar und liefert zudem keine Profilinformation. Dieser Problematik nimmt sich das M8 nun mit Hilfe der Auflichtoption und der inhärenten Eigenschaften des Mikroskops, namentlich der Fokusfusion und der Live-Stitching-Funktion an und bietet eine exzellente Lösung zur Digitalisierung.
Das Erstellen von detaillierten, digitalen Messberichten inklusive einfacher Vermessung von Längen und Flächen, Einbringen von Anmerkungen, sowie die dreidimensionale graphische Darstellung der Probenoberfläche schaffen enorme Möglichkeiten für die analytische Auswertung und erleichtern bisher unnötig komplizierte Arbeitsabläufe.
Gerne stehen wir Ihnen für eine Live-Demonstration des Systems zur Verfügung, bei der Sie sich von der Einfachheit der Bedienung und ausgezeichneten Performance überzeugen können.
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