AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen

Termine
25. März 2020  - 08. April 2020

Series of free webinars on correlative electron microscopy techniques and In Situ TEM solutions

Don't miss the free WEBINARS on CORRELATIVE ELECTRONIC MICROSCOPY TECHNIQUES and IN SITU TEM SOLUTIONS organized by Quantum Design Italy. One hour each, once a week, in collaboration with our ...
AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen - AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen
AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen

Mit dem AFSEM-Rasterkraftmikroskop (AFM)  können zwei der leistungsfähigsten Ober­flächen­ana­lyse­me­tho­den, AFM und REM, schnell und einfach miteinander kombiniert werden. Mit nur einem ...


AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen - Self-sensing cantilevers
Self-sensing cantilevers

SCL-Sensor.Tech develops and manufactures silicon piezo-resistive self-sensing cantilevers. This type of all-electrical cantilever allows completely new applications in the fields of AFM, nanoprobing, ...

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