Dünnschicht Stressmess-System
Dünnschicht-Spannungsmesssysteme FLX Flexus
Die Toho-FLX-Dünnschicht-Spannungsmesssysteme bieten die Möglichkeit Filmstress sowie den linearen Ausdehnungskoeffizienten von Dünn- und Dickfilmen auf Silizium-Wafern und anderen Substraten optisch ...
