SWIR-Bildgebung von geführtem und gestreutem Licht aus integrierter Silizium-Optik

Die integrierte Optik gilt als Schlüs­sel­technologie in Feldern wie der Tele­kommunikation, der Biosensorik bis hin zur Quantenoptik.  

Um planare, optische Schaltkreise zu charak­terisie­ren, müssen deren Signale über Lichtleiter an externe Quellen bzw. Detektoren gekoppelt werden. Da die integrierten Lichtwellenleiter meist nur kleine Querschnittsflächen haben, ist es oft schwierig, die Fa­sern am Ein- und Ausgang präzise auszurichten, insbesondere wenn nur ein Mikroskopbild zur Verfü­gung steht. In diesem Fall wird die Justage über eine Maximierung der Ausgangsleistung ermöglicht. Auf­grund der Freiheitsgrade von beiden Fasern in drei Achsen kann dies eine langwierige Prozedur sein. Eine SWIR-Kamera kann die Ausrichtung erheblich beschleunigen. Für diesen Zweck wird in den Experimenten eine Xenics XS-1.7-320 InGaAs-Kamera benutzt. Fordern Sie den vollständigen Bericht an!


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