Das neue AFSEM nano ist eine konsequente Weiterentwicklung des innovativen AFSEM-Konzepts. Der neuentwickelte Messkopf ist kompakter, leichter und leistungsstärker und ermöglicht die einfache Integration in bestehende REM- oder FIB-Systeme. Damit können zwei der auflösungsstärksten Mikroskopiemethoden – REM und AFM – miteinander kombiniert werden, wodurch sich völlig neue Einblicke in die Mikro- und Nano-Welt ergeben.

Durch die komplementären Stärken beider Methoden können die Anwender z.B. mechanische, elektrische oder magnetische Eigenschaften der REM Proben in-situ mit nanometer Genauigkeit charakterisieren, ohne die Probe dabei aus dem Vakuum ausschleusen zu müssen. Zusätzlich lässt sich das AFSEM nano auch mit weiteren add-ons, wie z.B. Nano-Indentern, Zugprüfgeräten oder Nano-Manipulatoren kombinieren.
Durch die kompakte Bauweise kann das AFSEM nano in fast alle kommerziellen REM-Systeme integriert werden und erweitert damit die Möglichkeiten der korrelierten Analyse an unterschiedlichsten Proben.

Mehr über AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen