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AttoMap™ - analytisches µXRF Röntgenmikroskop

von SIGRAY

Das AttoMap™ µXRF Röntgenmikroskop bietet die höchste Auflösung und die größte Sensitivität eines Laborsystems und ermöglicht Ergebnisse welche bisher nur an einem Synchrotron erzielt werden konnten. Es kann sowohl für Transmissions- als auch für Fluoreszenzmessungen zur chemischen Analyse verwendet werden. Erste Ergebnisse bei der Spurenelement Analyse zeigen eine Sensitivität von <1-10 ppm bei einer Messdauer von 1 Sekunde.

Weitere Informationen

Die Vorteile des AttoMap™ Systems im Vergleich zu herkömmlichen µXRF Laborsystemen basieren auf drei Innovationen welche Sigray entwickelt hat.

Die patentierte FAAST™ Röntgenquelle mit 50x höherer Helligkeit im Vergleich zu anderen Mikrofokus Röntgenquellen welche normalerweise in µXRF Systemen verbaut werden,
Hoch effiziente, eigenentwickelte Röntgenoptiken welche einen kleinen, achromatischen Fokus mit einem großen Arbeitsabstand kombinieren.
Eine Detektor Geometrie welche eine 10x Fluoreszenzausbeute im Vergleich zu herkömmlichen Aufbauten gewährleistet.

Basierend auf diesen drei Eigenentwicklungen ermöglicht das AttoMap™ System völlig neue Ansätze für µXRF Experimente:

Substantiell, höhere Auflösung im Bereich von 3-5 µm MTF welche die Detektion von Nanopartikeln im Bereich von 50-100 nm ermöglicht
Dramatisch schnellere Aufnahmegeschwindigkeiten im Bereich von nur einer Minute im Vergleich zu einem halben Tag bei normalen µXRF Systemen ermöglichen einen bis zu 500x höheren Probendurchsatz
Sub-ppm und sub-Femtogramm Sensitivität in Sekunden ermöglicht erstmalig Spurenelement Analyse mit einem µXRF Laborsystem
Akkurate Quantifizierungsmöglichkeiten und eine optionale Zwei-Energie Röntgenquelle für maximale Flexibilität
Die Möglichkeit verdeckte Mikrostrukturen zu analysieren

AttoMap-200

Parameter	Specification
Spot Size	High Res (<8 µm) \| Med Res additional optics also available
Sensitivity	Sub-ppm relative detection sensitivity and capable of mapping trace elements. Picogram to femtogram absolute sensitvity (element & acquisition time dependent)
Additional Capabilities & Modules	2D correlative x-ray imaging at <1 µm resolution included (standard) Optical microscopy included (standard) Future modules will be available as upgrades
Footprint	54” W x 65.5” H x 38.5” D
Maximum Sample Size	50 cm x 50 cm \| 15 cm thickness
Source	Sigray FAAST™ Microstructured Source
Target Material	Dual Energy Option, includes selection from: Ti, Cu, Rh, W, Pt, Zr, etc. Custom target options include materials that have previously not been used in conventional sources.
Power \| Voltage \| Current	50 W \| 20-50 kV \| 4 mA
X-ray Optic	Sigray Twin Paraboloidal X-ray Mirror Lens
Transmission Efficiency	~80%
Working Distance	10 - 50 mm (customizable)
Interior Coating	Platinum (increases NA of optic significantly)
X-ray Detectors	Two SDD detectors and an X-ray Camera
Energy Resolution	<135 eV at Mn-Ka

AttoMap-300

Parameter	Specification
Spot Size	High Res (<8 µm)
Sensitivity	Sub-ppm relative detection sensitivity and capable of mapping trace elements. Picogram to femtogram absolute sensitvity (element & acquisition time dependent)
Additional Capabilities & Modules	Optical microscopy and x-ray transmission microscopy included
Footprint	54” W x 65.5” H x 38.5” D
Stage Travel	100 x 100 mm (upgrades available upon request)
Maximum Sample Size	100 x 100 mm standard operation, ~30 x 30 mm at grazing angles \| 20 mm thickness
Source	Sigray Patented High Brightness Microfocus Source
Target Material	Multiple x-ray targets (up to 4) includes selection from: SiC, Cr, Cu, Rh, W, Mo, Au, etc.
Power \| Voltage \| Current	50 W \| 20-50 kV \| 2 mA
X-ray Optic	Sigray Twin Paraboloidal X-ray Optics (matched to each target material)
Transmission Efficiency	~80%
Magnification	1:1 Magnification Default; Demagnifying optics for higher resolution available upon request
Interior Coating	Platinum ((increases collection efficiency of optic significantly))
Energy Resolution	<129 eV at Mn-Ka \| <=136 eV at 5.9 keV