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Lightning in-situ TEM Biasing & Heizhalter

Von DENSsolutions

Die Lightning in-situ TEM Biasing & Heizhalter ermöglichen exakt kontrollierbare Untersuchungen mit simultanem Heizen und dem Anlegen von Strömen.

Eigenschaften

Gleichzeitiges in-situ Biasing & Heizen (6 bzw. 8 Kontakte)
Durchgängige Präparation von FIB Lamellen auf dem Chip
Gleiche Performance hinsichtlich Stabilität wie Wildfire Serie
Messungen von Strömen im pA Bereich
Elektrische Felder bis 400 kV/cm

Weitere Informationen

DENSsolutions patentierte Nano-Chip MEMS Technologie

Die Nano-Chips von DENSsolutions sind modernste Probenträger und ersetzen herkömmliche Kupfernetzchen. Basierend auf der Micro-Electro-Mechanical Systems Technologie (MEMS) eröffnen sie die einzigartige Möglichkeit TEM-Untersuchungen während der hochlokalen Manipulation (in-situ) in einer kontrollierten Atmosphäre und hochlokal durchzuführen. Jeder Nano-Chip schafft eine Art Mikro-Atmosphäre innerhalb Ihres TEM. Bedingt durch die sehr geringe thermische Masse und damit geringen Manipulationsströmen sind Ansprechverhalten, Genauigkeit und Stabilität unerreicht hoch und die Bedingungen exakt reproduzierbar.

MEMS Design für höchste Stabilität

Die Auswahl der Materialien für Nano-Chips schafft die Voraussetzung für eine stabile, chemisch inerte und elektrisch isolierte Umgebung.

Hochlokales Heizen

Die Heizung der Proben erfolgt hochlokal in den Dimensionen der Probengrößen (nm). Die geringe thermische Masse ermöglicht eine exakte Kontrolle der Temperatur.

Verlässliche Temperatur

Durch die von DENSsolutions entwickelte 4-Punkt-Temperaturmessung („in-loop“) beträgt die Genauigkeit der Temperatur im Bereich < 0.03K.

Applikationsspezifische Ausführungen der Chips

Eine Auswahl an Nano-Chips mit verschiedenem Support dient der Abdeckung möglichst großer Forschungsbereiche. So sind die Nano-Chips z.B. mit SiN_x- oder Kohlenstofffilm sowie als Through Hole Version bestellbar.

Kontrollierbares Ansprechen

Mit der benutzerfreundlichen Software sind sowohl die manuelle Einstellung der Temperatur als auch das Anlegen von Temperaturprofilen durchführbar. Alle gewonnenen Daten werden aufgezeichnet.
Verlässliche Temperatur

Durch die von DENSsolutions entwickelte 4-Punkt-Temperaturmessung („in-loop“) beträgt die Genauigkeit der Temperatur im Bereich < 0.03K.

Lange Lebenszeit

Heizexperimente an ein und demselben Chips sind mehr als 90 Stunden bei erhöhten Temperaturen möglich ohne, dass die TEM Performance beeinflusst wird.
Applikationsspezifische Ausführungen der Chips

Anwendungen

Elektrische/Elektronische Eigenschaften in nanoskaligem Material und Mikrostrukturen

Messungen von Defekten

Elektromigration

Mechanisches Testen von MEMS-basierten Materialien

Festkörperanalytik

Downloads

Lightning brochure

Impulse software

Videos

DENSsolutions - FIB Lamella Preparation - with comments

Referenzkunden

"In-situ TEM provides a new dimension in dynamic structural studies of a range of technologically important materials. The Department of Materials at Oxford will use the DENSsolutions sample heating holder in a number of projects related to catalysis and low dimensional carbon materials. We have chosen this solution for its unrivaled stability and control."

- Professor Angus Kirkland, Professor of Materials, University of Oxford, United Kingdom