High performance Detektoren für REM und TEM Systeme
Unser Lieferant Advacam/Advascope stellt mit dem ePix und dem ePix EFE zwei leistungsstarke Detektoren für die Elektronen Mikroskopie (REM & TEM) vor. Die Detektoren können für nahezu alle gängigen Anwendungen konfiguriert werden. Dazu gehören:
- 2D/4D STEM in SEM/TEM
- EBSD
- EELS
- Ptychographie
- µED
- µCT and nanoCT
Die ePix Detektoren basieren auf der dritten Generation der Timepix Technologie. Advacam ist Gründungsmitglied des CERN Medipix Consortiums und die einzige Firma, welche eine Lizenz für jede Timepix Generation besitzt.
Die ePix Detektoren verwenden datengesteuertes Auslesen, wobei jedem Elektron ein Zeitstempel mit präzisen Positions- und Energieinformationen zugewiesen wird. Die Detektoren bieten einen praktisch unbegrenzten Dynamikbereich und eine um Größenordnungen bessere Empfindlichkeit bei niedrigen keV-Werten im Vergleich zur indirekten Elektronenerfassung. ePix kombiniert eine leistungsstarke Auslesearchitektur mit einem innovativen und robusten Detektordesign und schafft so den ultimativen Detektor für Elektronenmikroskopieanwendungen mit hohem Durchsatz, hoher Auflösung und hoher Empfindlichkeit. Hauptvorteile dabei sind:
- Einzelelektronenempfindlichkeit
- Großer Raumwinkel auf kleinstem Raum
- Hohe räumliche Auflösung
- Ultraschnelle Auslesegeschwindigkeit
Die Detektoren können schnell und einfach in bestehende REM oder TEM Systeme integriert werden und über ein offenes SDK in bestehende Softwarelösungen integriert und ausgelesen werden. Ebenso steht auch eine eigenständige Softwarelösung zur Verfügung.
Der Energiebereich des Detektors beträgt 2.5-300 keV und die Pixelgröße ist 55 µm x 55 µm. Dies ergibt bei einer Pixelmatrix von 256 x 256 eine Sensorgröße von 14 mm x 14 mm. Die Dicke des Si-Sensors kann im Bereich von 100-500 µm je nach gewünschter Anwendung variiert werden. Jeder Detektor wird in enger Absprache mit unseren Kunden entwickelt, um das bestmögliche Ergebnis zu erzielen.
