NexView das 3D-Profilometer mit hoher Präzision, Flexibilität und Geschwindigkeit
„Ein Werkzeug für alle Oberflächen, ohne Kompromisse.“
Das NexView™-Profilometer ist das neue berührungslose 3D-Messsystem ür schnellste, präzise, quantitative Oberflächenmesstechnik. Dieses neue System, entwickelt sowohl für industrielle Produktion als auch für die wissenschaftliche Forschung, ist das Flaggschiffprodukt vom Marktführer Zygo für Weisslichtinterferometer.
Das NexView™-Profilometer wurde für die berührungslose Oberflächenmesstechnik an einer Vielzahl unterschiedlichster Materialien und Oberflächen, von extrem glatt bis sehr rau, weiterentwickelt. Mit einer vertikalen Auflösung im Subnanometer-Bereich bei allen Vergrößerungen erhalten Messtechniker auch bei Objektivwechsel stets die gleiche Höhenauflösung und präzisen Darstellungen. Unter Ausnutzung kontaktloser 3D-Technologie misst das System zuverlässig empfindliche und transparente Proben, ohne die Prüflinge zu beschädigen.
Durch höchste Messgeschwindigkeit, selbst bei steilen Flanken von bis zu 85 Grad, spielt das NexView im Vergleich zu Technologien, bei denen die Höhenauflösung von der jeweiligen Vergrößerung abhängig ist, seine ganzen Vorteile aus.
Das NexView™-Profilometer und sein Mx™-Softwarepaket vereinen das Beste aus mehreren Technologieevolutionen und erzeugen genaueste Oberflächentopografien, ideal zur Messung von Rauheit, Ebenheit, Winkeln, Schichtdicken, Stufen und mehr. Die neue Mx™-Softwareplattform ist einfach zu benutzen und zu erlernen. Sie ist die Schnittstelle zur Systemsteuerung und Datenanalyse. Dabei bietet sie reichhaltige interaktive quantitative 3D-Topografien und intuitive Messnavigation.
Hauptmerkmale des neuen Systems:
- Vertikale Auflösung im Subnanometer-Bereich für alle Messbereiche, unabhängig von der Vergrößerung
- Robuste Leistung, selbst in Umgebungen mit Vibrationen, durch den Einsatz der innovativen, patentierten SureScan™-Technologie
- Scanner-basierter Kollisionsschutz, um die Möglichkeit kostspieliger Reparaturen durch versehentliche Kollision der Objektive mit den Proben zu verhindern
- Einzigartige Fokussierhilfe „durch die Optik“ erleichtert das Auffinden des Messsignales, selbst bei glattesten Prüflingen
- Vollautomatische XYZ- und Neigungsverstellung mit nahtlosem Aneinandersetzen der Messfelder (Stitching) sind Standard
- Zygos selbstentwickelte neue Mx™-Softwareplattform bietet eine einfache, Workflow-basierte Programmeinrichtung, Durchführung der Messung und Auswertung
- Oberflächentopografieergebnisse nach ISO 25178
- Großer Probentisch mit 200 mm Verfahrweg in XY-Richtung für Werkstücke bis zu 10 kg, vertikalem Verfahrweg von 100 mm und integrierter Höhenverstellung des Messkopfes, wodurch Prüflinge mit einer Höhe von bis zu 160 mm aufgenommen werden können
Durch die integrierten einfachen Software-Recipes, die enorme Objektivauswahl und die einfachen Probeneinrichtungswerkzeuge kann das Gerät die unterschiedlichsten Aufgaben bewältigen und adaptiert werden.
Der Wechsel zwischen Recipes ist schnell und einfach; neue Recipes können innerhalb weniger Minuten konfiguriert werden.
Erweiterte Funktionalität ist auch bei den Softwaremodulen zur Messungen von transparenten Folien und bei Schichtdickenanalysen zu finden.
Das neue Konzept des NexView stellt eine erhebliche Verbesserung gegenüber vorhandenen Messgeräten auf dem Markt dar. Durch diese Vorteile unterstreicht es seine Stellung als „ein Werkzeug für alle Oberflächen, ohne Kompromisse“.
