Mapping ad alta risoluzione per elementi a basso numero atomico con AttoMapTM
Il sistema Sigray AttoMapTM per micro-fluorescenza a raggi X (micro-XRF) ha un design brevettato per analisi composizionali di precisione: ciò permette di analizzare quasi tutti gli elementi della tavola periodica. I vantaggi intrinseci della tecnica micro-XRF sono massimizzati dalle prestazioni del sistema AttoMapTM, l’unico sistema micro-XRF sul mercato capace di arrivare a risoluzioni sotto ai 5 µm e tracciare elementi fino al Boro (B) in tracce al sub-ppm.
Confronto fra le diverse tecniche di analisi composizionale
Il sistema AttoMapTM combina i vantaggi della tecnica micro-XRF con lo sviluppo di ottiche e sorgenti a raggi X brevettate Sigray, aventi brillanza circa 50 volte superiore rispetto alle sorgenti per XRF tradizionali. Questo guadagno conferisce al sistema AttoMapTM capacità di analisi micro-XRF “synchrotron-like”. Inoltre, le sorgenti Sigray sono incorporate di un multi-target automatizzato per ottimizzare l’acquisizione degli elementi di interesse, coprendo così gran parte degli elementi della tavola periodica.
Design brevettato del sistema Sigray AttoMapTM
Grazie alla flessibilità delle componenti installate, la versione del sistema AttoMapTM-310 permette il mapping simultaneo degli elementi dal Boro (B) all’Uranio (U) con la particolarità di poter elaborare mappe elementali anche per campioni molto sottili e/o a basso numero atomico. Ciò è possibile grazie alla modalità “grazing angle” (ad angolo variabile) brevettata, con la quale si riducono i problemi relativi alla profondità di escaping dei raggi X e si amplia la regione di interazione per un segnale più intenso in output.
Grazing angle e regioni di interazione dei raggi X in AttoMapTM
Tale modalità permette l’acquisizione di un’ampia gamma di campioni senza perdere capacità risolutive.
