AFSEM - microscopia correlativa: AFM e SEM
Dai un’occhiata all’ultimo Webinar tenuto da Chris Schwalb COO di Quantum Design Microscopy sul tema della caratterizzazione delle proprietà magnetiche di nanostrutture 3D combinando la tecniche AFM “in situ” FIB/SEM.
L’AFSEM nano è un nuovo microscopio a forza atomica (AFM), progettato per essere integrato nei microscopi elettronici a scansione (SEM) e nei sistemi dual beam (FIB/SEM). Il suo design permette ...
Il sistema AFSEM consente di combinare le possibilità del SEM con quelle della microscopia a forza atomica (AFM). Il dispositivo AFSEM è compatibile con la maggior parte dei sistemi SEM e FIB/SEM ...