AFSEM - microscopia correlativa: AFM e SEM
Dai un’occhiata all’ultimo Webinar tenuto da Chris Schwalb COO di Quantum Design Microscopy sul tema della caratterizzazione delle proprietà magnetiche di nanostrutture 3D combinando la tecniche AFM “in situ” FIB/SEM.
AFSEM nano
L’AFSEM nano è un nuovo microscopio a forza atomica (AFM), progettato per essere integrato nei microscopi elettronici a scansione (SEM) e nei sistemi dual beam (FIB/SEM). Il suo design permette ...
Cantilever AutoSensibili
SCL-Sensor.Tech sviluppa e produce cantilever piezo-resistivi auto sensibili. Questa tipologia di cantilever apre le porte ad una gamma di applicazioni totalmente nuova nel campo della microscopia a ...
