AttoMap - Microscopio analitico µXRF

da SIGRAY

Il microscopio analitico AttoMap XRF per micro-fluorescenza a raggi X (micro-XRF) offre risoluzione e sensibilità più alte di qualsiasi altro analogo da laboratorio, fornendo prestazioni synchrotron-like.

Il sistema AttoMap XRF può essere utilizzato, oltre che per il mapping elementale, anche per l’analisi strutturale in trasmissione. La sensibilità senza pari del sistema permette di rilevare elementi in tracce fino a frazioni di ppm in pochi secondi.

Caratteristiche
  • Unico sistema micro-XRF da laboratorio al mondo con risoluzione fino a 3 µm
  • Alta velocità di scansione e produzione di mappe elementali in pochi secondi
  • Modalità grazing angle brevettata per mapping di campioni a basso Z e/o thin films
Novità

Mapping ad alta risoluzione per elementi a basso numero atomico con AttoMapTM

Il sistema Sigray AttoMapTM per micro-fluorescenza a raggi X (micro-XRF) ha un design brevettato per analisi composizionali di precisione: ciò permette di analizzare quasi tutti gli elementi della ...

Maggiori informazioni

La chiave delle straordinarie performances del sistema AttoMap XRF è fondata sulle due maggiori innovazioni brevettate e sviluppate da Sigray:

Le sorgenti multi-target FAAST Sigray, circa 50 volte più brillanti delle comuni sorgenti per micro-XRF da laboratorio, totalmente automatizzate e con fino a 5 target customizzabili (fra SiC, Ti, Cu, Pt, Rh, W, Zr, etc…).

Le ottiche bi-paraboidali Sigray ad altissima efficienza che combinano uno spot del fascio molto ridotto ed una distanza di lavoro ottimale.

La chiave delle straordinarie performances del sistema AttoMap XRF è fondata sulle due maggiori innovazioni brevettate e sviluppate da Sigray:

Le sorgenti multi-target FAAST Sigray, circa 50 volte più brillanti delle comuni sorgenti per micro-XRF da laboratorio, totalmente automatizzate e con fino a 5 target customizzabili (fra SiC, Ti, Cu, Pt, Rh, W, Zr, etc…).

Le ottiche bi-paraboidali Sigray ad altissima efficienza che combinano uno spot del fascio molto ridotto ed una distanza di lavoro ottimale.

Downloads

AttoMap-200
AttoMap-300
X-ray solutions family
FAAST Phase x-ray source
AppNote Analysis of trace elemental distribution in plant specimen
AppNote Metrology of 3D transistors for La/Hf, Co, Ni dopant
AppNote Quantifying tempered glass layer
AppNote Mineralogy
In Situ X-ray Approaches in Battery Research

Contatti

Dr. Simone Paziani
Dr. Simone Paziani

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