SEM/XRF: la fluorescenza a raggi X per i microscopi a scansione elettronica
da IXRF SystemsGrazie ai sistemi microXRF di iXRF potrai ottenere capacità analitiche uniche per il tuo microscopio elettronico a scansione SEM.
Grazie all’interazione dei raggi X con il tuo campione sarai infatti in grado di aumentare il rapporto segnale/rumore consentendoti di ottenere una maggiore sensibilità per gli elementi a Z più elevato: sensibilità che supera l'eccitazione del fascio elettronico di un fattore 10-1000.
L'eccezionale stabilità del fascio, insieme al moderno rivelatore di raggi X SDD, ti consentirà una maggiore sensibilità agli elementi in traccia fino al livello di poche ppm. Inoltre, i materiali non conduttivi potranno essere altresì analizzati senza alcuna preparazione o rivestimento speciale.
I sistemi di iXRF si integrano con tutti i SEM oggi presenti in commercio per fornirti un'analisi elementale completa grazie all’uso simultaneo del fascio elettronico e della sorgente di raggi-X.
Il tutto coadiuvato dal potente software IRIDIUM ULTRA, capace di gestire le analisi in maniera rapida e semplice.
- Vasta scelta dei materiali del target
- voltaggi di accelerazione fino a 50kV
- Corrente del fascio fino a 1mA
- Dimensione della spot size da 10 µm fino a 25mm
- Ottiche policapillari brevettate
- Rivelazione degli elementi in traccia fino a 10ppm
- Sistemi raffreddati ad aria
- Piezo stage ad alta precisione
- Software gratuito e semplice con più di 60 strumenti di analisi inclusi
Maggiori informazioni
I vantaggi delle interazioni dei raggi X nei SEM
I fasci di elettroni generati nei SEM producono un rumore di fondo molto elevato. Questo background nasconde la presenza di elementi in traccia nei campioni. Al contrario, l'eccitazione diretta dei raggi X prodotta da una vera sorgente di raggi X non soffre di questo effetto. Sarà possibile allora identificare e quantificare facilmente gli elementi contenuti in poche ppm e persino produrre mappe a raggi X per gli elementi presenti in traccia e di visualizzarne la distribuzione nel campione. Per gli elementi superiori a Na, ad esempio, i limiti possono risultare inferiore alle 10 ppm.
iXRF ha due soluzioni per la produzione di raggi X che possono essere integrate nel SEM: Xb SEM™ e ƒX SEM™.
Xb SEM™: sistema high-end
Il design compatto e il montaggio su slitta di Xb SEM™ consentono un elevato accoppiamento con il campione. Grazie alle ottiche policapillari brevettate, potrai ottenere spot size sul campione della dimensione di 10µm.
Xb SEM™ dispone di un alimentatore ad alta tensione integrato che consente di raggiungere una potenza massima di 50 watt (35-50 kV e 1,0 mA a seconda del materiale dell'anodo), che grazie all'ottimo accoppiamento col campione fornisce risultati analitici XRF paragonabili a quelli dei tradizionali strumenti XRF "da banco" o "mainframe". Un ulteriore vantaggio risiede nel design della sorgente di raggi X Xb SEM™ che è progettata in modo da non interferire con il normale funzionamento del SEM, permettendo l'uso del fascio elettronico e dei raggi X sulla stessa regione di interesse e allo stesso tempo, in modo da raccogliere simultaneamente dati su tutti gli elementi.
ƒX SEM™: sistema low-cost
ƒX SEM™ di IXRF è una sorgente di raggi X raffreddata ad aria, dal costo contenuto, progettata esclusivamente per l'uso su microscopi elettronici. Grazie al suo design compatto e al montaggio su slitta, è possibile ottenere un accoppiamento molto stretto con il campione. Questo design unico fornisce raggi X "ad alto flusso" a piccole o grandi aree di eccitazione sulla superficie del campione. ƒX SEM™ fornisce infatti spot di eccitazione che vanno da 500 µm fino a 25 mm.
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