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Serie Lightning Arctic: raffreddamento, riscaldamento e biasing in situ TEM

da DENSsolutions

La serie Lightning Arctic per raffreddamento, riscaldamento e biasing in situ TEM fornisce informazioni in tempo reale sul campione in un ambiente elettrico e termicamente controllato, da -160 °C a 800 °C.

Caratteristiche
  • Raffreddamento e/o riscaldamento simultanei al biasing in situ
  • Controllo permanente della temperatura e stabilità ultraelevata (risoluzione atomica)
  • Orientamento preciso del campione con funzione di doppio tilt
  • LN2 dewar e unità di controllo esterne plug-and-play per riscaldamento e biasing (HMI)
  • Compatibile con microscopi ThermoFisher e JEOL

Maggiori informazioni

Tutti i sistemi DENSsolutions utilizzano l’innovativa tecnologia brevettata MEMs Nano-Chip

I Nano-Chips sono portacampioni funzionali all’avanguardia basati su sistemi micro-elettro-meccanici (MEMs) che sostituiscono le tradizionali griglie TEM di rame e permettono di controllare a livello locale l’ambiente e gli stimoli applicati al campione. Ogni Nano-Chip crea un ambiente di laboratorio su scala micrometrica all’interno del TEM. Grazie alla loro bassissima massa e al loro minimo consumo energetico, i tempi di risposta sono estremamente rapidi e le prestazioni altamente affidabili.

I Nano-Chips di nuova generazione portano le applicazioni TEM ad un livello superiore. I fenomeni di bulging risultano trascurabili fino a 750 °C, così come i fenomeni di drift. Tale stabilità consente a ricercatori e scienziati di concentrarsi sul proprio esperimento.

Design MEMs unico per una stabilità ottimale: i Nano-Chips sono fabbricati per garantire un ambiente stabile, chimicamente inerte ed elettricamente isolato.

Sorgente di calore: localizzare il riscaldamento o il raffreddamento sulle stesse dimensioni della scala del campione garantisce il massimo controllo, offrendo una temperatura omogenea e massimizzando l’affidabilità della misura.

Controllo della risposta: il software “Impulse” di DENSsolutions è facile da usare e offre diverse modalità operative di profilazione personalizzata, output dei parametri di misura in tempo reale e registrazione completa dei dati.

Risultati affidabili: il robusto feedback della temperatura a circuito chiuso localizzato offre il massimo in termini di stabilità del campione, tempo di risposta della temperatura e accuratezza.

Lunga durata di misura: fino a 90 ore a temperature molto alte o molto basse senza influire sulle prestazioni del microscopio.

Fabbricazione specifica per l’applicazione richiesta: varie opzioni custom per la pellicola di supporto dei Nano-Chips per soddisfare tutti i requisiti applicativi.

Applicazioni

Scienza dei materiali
Atomic (S)TEM imaging
Studio di proprietà elettriche
Presenza di difetti nei materiali
Elettromigrazione
Trasformazione di fase
Crescita dei cristalli
Interfacce e superfici
Trattamenti termici e precipitazioni

Downloads

Lightning Arctic
Impulse software

Contatti

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