Sistema combinato per Imaging Raman e Microscopia Elettronica a Scansione (Raman-SEM)
RISE WITecIl primo vero sistema al mondo che integra misure di Imaging Raman confocale e misure di Microscopia Elettronica a Scansione (SEM), aprendo le porte ad nuova tecnica di microscopia correlativa: RISE (Raman Imaging Scanning Electron). La tecnica RISE permette di correlare proprietà nanostrutturali di superficie con informazioni di carattere chimico-composizionale del campione. Il microscopio RISE WITec combina in un unico strumento tutte le caratteristiche del microscopio confocale Raman alpha300 R con quelle di un microscopio SEM stand alone.
- Passaggio dalla modalità Raman a quella SEM (e viceversa) rapido e semplice
- Trasferimento automatico del campione da una posizione di misura all'altra
- Interfaccia software integrata per un controllo semplice di entrambe le modalità di misura
- Correlazione dei risultati e sovrapposizione delle immagini delle due tipologie di misura
- Nessun compromesso sulle prestazioni delle singole misure SEM e Raman Imaging
FusionScope – wegweisende Methode für Cantileverspitzen in neuem Paper über Magnetic Force Microscopy (MFM)
Maggiori informazioni
I vantaggi della microscopia RISE per tutti:
- i novizi di una o dell'altra tecnica beneficeranno della facilità di utilizzo dello strumento ed intuitività delle procedure di misura
- gli utilizzatori esperti apprezzeranno gli eccezionali vantaggi della combinazione delle due tecniche di imaging in un singolo, potente strumento.
Scienze dei materiali, nanotecnologie, scienze della terra, biologia, farmaceutico, ...: grazie alla sue uniche capacità di imaging correlato, il microscopio RISE della WITec fornirà nuove risposte a ricercatori e scienziati, indipendentemente dallo specifico settore di applicazione
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