Spettrometro di attenuazione spettrale della fibra
FSL300 da BenthamIl sistema FSL300 fornisce una valutazione accurata della perdita spettrale della fibra, fondamentale nei processi di controllo della qualità, nella ricerca sui materiali e nello sviluppo delle fibre ottiche. Utilizzando il metodo di prova di riferimento riconosciuto a livello internazionale, la tecnica cut-back, l'FSL300 offre un'elevata precisione di misura per tutti i tipi di fibra. Grazie alla natura sequenziale di questa tecnica, l'FSL300 presenta una stabilità e una ripetibilità ottica e meccanica superlativa all'estremità del cut-back, per garantire la massima sicurezza di misura.
- Valuta con precisione la perdita spettrale della fibra
- Utilizza una tecnica di cut-back riconosciuta a livello internazionale
- La banda di lunghezze d'onda può essere estesa a tutto l'UV-vis e all'IR, oltre i 5000 nm.
- Valutazione di alta precisione di un'ampia gamma di tipi di fibre, tra cui silicio, vetro drogato, plastica e fibre a band gap fotonico.
- La sorgente di luce e le ottiche di lancio sono saldamente avvitate al monocromatore per evitare l'instabilità meccanica nel tempo
- Calcolo della perdita in dB/km in funzione della lunghezza d'onda
Maggiori informazioni
FSL300 è caratterizzato da un design modulare, che dimostra una maggiore flessibilità configurativa grazie alla selezione indipendente della sorgente di luce con chopper, della configurazione del monocromatore, dell'amplificatore lock-in, della stazione di rivelazione e dell'ottica di lancio per misurare in un intervallo spettrale eccezionalmente ampio.
Benefici principali
- Elevata stabilità ottica e meccanica
- Design modulare ad elevata flessibilità di configurazione
- Processo di misura semplice e ripetibile
- Misura e calcolo dell’attenuazione spettrale completamente automatizzati
Parametri restituiti
- Attenuazione spettrale della fibra in dB/km
Specifiche
Montaggio delle fibre
Ottica di lancio | Bare fibre chuck per fibre da 80-200µm |
Stazione di rilevazione | V-groove bare fibre holder per fibre da 125 μm |
FSL300_Si
Range spettrale | 350-1100nm |
Tipico intervallo spettrale dei dati | 5nm |
Tipica larghezza spettrale (FWHM) | 5nm |
Sorgente di luce | IL1 con chopper ottico |
Monocromatore | TMc300 con grating 1200 g/mm |
Detector | 2.4x 2.4mm Silicon: 350-1100nm a temperatura ambiente |
Accuratezza di lunghezza d’onda | GA-T312R0U5 ± 0.2nm |
FSL300_InGaAs
Range spettrale | 800-1700nm |
Tipico intervallo spettrale dei dati | 5nm |
Tipica larghezza spettrale (FWHM) | 5nm |
Sorgente di luce | IL1 con chopper ottico |
Monocromatore | TMc300 con reticoli 1200 g/mm |
Detector | 1mm dia. InGaAs: 800-1700nm a termperatura ambiente |
Accuratezza di lunghezza d’onda | GA-T30831U2: ± 0.3nm |
FSL300_InGaAs_EX
Range spettrale | 800-2500nm |
Tipico intervallo spettrale dei dati | 5nm |
Tipica larghezza spettrale (FWHM) | 5nm |
Sorgente di luce | IL1 con chopper ottico |
Monocromatore | TMc300 con reticoli 830 & 600 g/mm |
Detector | 1mm dia. extended InGaAs: 800-2500nm raffreddato termoelettricamente |
Accuratezza di lunghezza d’onda | GA-T30831U2: ± 0.3nm |
FSL300_PbSe
Range spettrale | 1500-5000nm |
Tipico intervallo spettrale dei dati | 10nm |
Tipica larghezza spettrale (FWHM) | 10nm |
Sorgente di luce | ILD-QH-IR-CHOP |
Monocromatore | TMc300 con reticoli 600 & 300 g/mm |
Detector | 3mm dia. PbSe: 1000-5000nm raffreddato termoelettricamente |
Accuratezza di lunghezza d’onda | GA-T306R1U6: ± 0.4nm |
FSL300_Dual_Si_InGaAs
Range spettrale | 350-1700nm |
Tipico intervallo spettrale dei dati | 5nm |
Tipica larghezza spettrale (FWHM) | 5nm |
Sorgente di luce | IL1 con chopper ottico |
Monocromatore | TMc300 con reticoli 1200 & 830 g/mm |
Detector | 2.4x2.4mm Silicon: 350-1100nm a temperatura ambiente 1mm dia. InGaAs: 800-1700nm a temperatura ambiente |
Accuratezza di lunghezza d’onda | GA-T312R0U5 ± 0.2nm |
Applicazioni
- IEC 60793-1-40:2001
- Fibre ottiche - Part 1-40: Metodi di misurazione e procedure di prova – Attenuazione
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