Das FusionScope – Korrelierte Mikroskopie völlig neu gedacht
Das FusionScope ist ein neuartiges und leicht zu bedienendes System von Quantum Design für den immer interessanter werdenden Bereich der korrelativen Mikroskopie. Es wurde von Grund auf so entworfen, dass es die hohe Auflösung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) mit den breit gefächerten Anwendungsmöglichkeiten des Rasterkraftmikroskops (AFM) verbindet. Vereinigen Sie die Informationen aus Ihren SEM-Messungen mit „realer“ dreidimensionaler Topographie, sowie nanomechanischen, leitfähigen, aber auch magnetischen Eigenschaften charakterisiert mittels AFM.
Profile View mit dem FusionScope von einer Knochenoberfläche
Das FusionScope verfügt über ein innovatives gemeinsames Koordinatensystem, um AFM- und SEM-Operationen zur Probenmessung und -positionierung automatisch aufeinander abzustimmen. Innerhalb einer einzigen Softwareoberfläche können Sie Ihren Messbereich leicht mit hoher Auflösung identifizieren, Ihre Probe messen und die Bilddaten in Echtzeit kombinieren.
Neue Anwender können die korrelative Mikroskopie direkt und unkompliziert aufgrund des integrierten Assistenten nutzen, während erfahrene Benutzer mit einem leistungsstarken System ausgestattet werden, das alle von ihnen vertrauten SEM- und AFM-Funktionen enthält.
(Links) Profile View von CPU-Chip und Cantilever. (Mitte) SEM Aufnahme CP- Chip (Rechts) AFM Aufnahme CPU-Chip
Unser Team von Quantum Design auf der MNE 2022 beim Launch des neuen FusionScope
Eine einzigartige Besonderheit des FusionScope ist der „Profile View“ – eine 80-Grad-Neigung der euzentrisch einstellbaren Probenplattform in Verbindung mit dem AFM. Damit lässt sich die AFM-Spitze schnell und präzise mit hoher lateraler Auflösung, selbst auf komplexen und schwierigen Probenoberflächen, positionieren und die AFM-Messung direkt an der gewünschten Stelle durchführen.
Konzentrieren Sie sich auf Ihre Forschung und lassen Sie das FusionScope den Rest erledigen. Die Software des FusionScopes bietet eine intuitive, sowie individuell anpassbare Benutzeroberfläche und integriert die Automatisierung der meisten Funktionen in hilfreiche Arbeitsabläufe. Die smarte Datenverwaltung organisiert sämtliche SEM- und AFM-Daten und ermöglicht einen einfachen Zugriff auf diese Daten, auch nach der Messung.
Nutzen Sie das FusionScope für eine umfassende Materialcharakterisierung Ihrer Proben und führen Sie korrelative Analysen von strukturellen, mechanischen, elektrischen sowie magnetischen Eigenschaften in genau dem Bereich durch, der für Sie von Interesse ist. Profitieren Sie vom schnellen und intuitiven Arbeitsablauf des FusionScopes und führen Sie Qualitätskontrollen von Bauteilen, sowie Fehleranalysen von elektrischen Komponenten oder Halbleiterbauelementen auf hohem Qualitätsniveau durch. Charakterisieren Sie mühelos Nanostrukturen wie Nanodrähte, 2D-Materialien, Nanopartikel und viele mehr. Das FusionScope gibt Ihnen die volle Kontrolle über die Lokalisierung des gewünschten Bereichs, die Positionierung des Cantilevers und die Durchführung einer Vielzahl unterschiedlichster Messungen.
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