Analytica 2024

Wir werden folgende Produkte präsentieren:

In-situ-Probenmanagement für TEM: DENSsolutions bietet eine komplette Suite von Lösungen für das in-situ-Probenmanagement für Heizung, Biasind, Gase und Flüssigkeiten in Transmissionselektronenmikroskopen (TEM). Alle Systeme ermöglichen Untersuchungen von Proben, so dass die Dynamik direkt mit hoher Auflösung beobachtet werden kann.

Tisch- und Kompakt-Raster­elektronen­mikroskope: HITACHI Electron Microscopes bietet leistungsstarke, hochmoderne Rasterelektronenmikroskopie mit geringem Platzbedarf im Desktop- oder kompakten Format und mit intuitiver, leicht zu bedienender Bedienung.

Partikelgrößenanalysator: CPS bietet einen hochauflösenden Partikelgrößenanalysator, der die Größe von Partikeln im Bereich von 5 nm bis 70 µm misst. Das System bietet höchste Auflösung, hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit sowie einen weiten dynamischen Bereich.

Partikelklassifizierung, optische Parameter, absolute Partikelgrößenverteilung und numerische Konzentration einzelner Partikel in monodispersen oder polydispersen Proben werden durch CLASSIZER™ ONE bestimmt, die modernste Partikelanalyseplattform auf Basis der patentierten Single-Particle-Extinction-and-Scattering-(SPES)-Methode, hergestellt von EOS Italy.

Sputterbeschichtungs- und Kohleverdampfer: Quorum Technologies bietet eine breite Palette von verschiedenen Sputterbeschichtungs- und Kohleverdampfungssystemen für Routine- sowie für sehr spezialisierte oder hochwertige Beschichtungsanwendungen an.

Korrelatives AFM- und SEM-System: Das AFSEM-System von GETec ermöglicht es Ihnen, die Möglichkeiten Ihres SEM mit den Fähigkeiten eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zu kombinieren. Das AFSEM ist mit den meisten SEM- und FIB/SEM-Systemen auf dem Markt kompatibel und kann problemlos zu Ihrem System hinzugefügt werden.

Darüber hinaus werden wir live die neueste Entwicklung von Quantum Design präsentieren: Das FusionScope - eine einfach zu bedienende korrelative AFM- und SEM-Mikroskopieplattform, das die ergänzenden Stärken von AFM und SEM wie nie zuvor kombiniert.