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Bedienerfreundliche korrelative AFM/SEM-Mikroskopie-Plattform

FusionScope von Quantum Design

FusionScope ist eine einfach zu bedienende Plattform für korrelative Mikroskopie, die von Grund auf entwickelt wurde, um die Vorteile der REM-Bildgebung mit einer breiten Palette von AFM-Messverfahren zu verbinden.

Eigenschaften

Materialcharakterisierung
Qualitätskontrolle
Analyse von Fehlern
Nanostrukturen

Weitere Informationen

Korrelative Mikroskopie – einfach und schnell

Unser FusionScope ist ein einfach und schnell zu bedienendes System, welches die Elektronenmikroskopie (REM) mit einer großen Anzahl von AFM-Messmethoden vereint.

Hauptmerkmal ist das gemeinsame Koordinatensystem des FusionScope, welches automatisch die AFM-Messungen mit den REM-Messungen korreliert. Dies ermöglicht eine detaillierte Materialcharakterisierung z.B. hinsichtlich struktureller, mechanischer, elektrischer oder auch magnetischer Eigenschaften. Anwendungen in der Qualitätskontrolle oder der Fehleranalyse profitieren von der leistungsstarken Soft- und Hardware des Systems, ebenso wie hochauflösende Charakterisierung von Nanostrukturen wie Nanodrähte, Nanopartikel oder 2D-Materialien.

Mit einer Sub-Nanometer Auflösung kann dabei einfach und in Echtzeit zwischen AFM und REM gewechselt werden bei Beibehaltung der Region-of-interst (ROI). Nutzen Sie das z.B. das REM, um einen schnellen Überblick über die Oberfläche Ihre Probe zu erhalten, markieren im REM Bild Ihre ROI und starten dort dann einfach Ihre AFM Messung um die 3D Topographie Ihre Probe zu vermessen.

Kombinieren Sie REM und EDX mit verschiedenen AFM Messmodi wie Kontakt und Non-Kontakt oder den von uns entwickelten FIRE-Mode. Über speziell hergestellte Cantilever stehen Ihnen natürlich auch weiter Messmodi wie C-AFM und MFM zur Verfügung.

Eine Plattform – viele Möglichkeiten

Umfassende Informationen über das FusionScope erhalten Sie auf: https://fusionscope.com/