Kombinierte Mikroskope
AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen
Mit dem AFSEM-Rasterkraftmikroskop (AFM) können zwei der leistungsfähigsten Oberflächenanalysemethoden, AFM und REM, schnell und einfach miteinander kombiniert werden. Mit nur einem ...
