Microscope AFM Haute résolution 2D (HR-2D-AFM)
Conçu pour l'imagerie de matériaux bidimensionnelsLe HR-2D est un AFM puissant, abordable et robuste, conçu pour l'imagerie de matériaux de faible dimension et bidimensionnels. Il présente un faible encombrement (7" X 7") et se loge facilement dans une boîte à gants.
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Les microscopes à force atomique sont parfaitement adaptés à la création d'images et de mesures 3D sur des matériaux 2D. En effet, les AFM présentent un contraste extrême sur des échantillons plats et peuvent agrandir les hauteurs de surface par des facteurs allant de plusieurs millions à plusieurs milliards. Les échantillons de référence standard qui illustrent le contraste extrême d'un AFM sont le SiC et le Si. Chacun de ces échantillons présente des caractéristiques de surface bien caractérisées qui se situent dans la même gamme que les matériaux 2D tels que le graphène.
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