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Microscope AFM Haute résolution (HR-AFM)

Mesure des structures de taille sub-nanométriques

Le HR-AFM est un AFM hautes performances tout en restant abordable. Il est idéal pour les chercheurs qui ont besoin de visualiser et de mesurer des structures de taille sub-nanométriques.

Caractéristiques techniques

Principales caractéristiques et avantages de l'HR-AFM

Faible bruit de fond	Avec un bruit de fond de 35 picomètres, l'AFM HR est capable de mesurer des échantillons dont les structures vont du sub-nanomètre au micron.
Approche cinématique de la pointe	L'AFM HR utilise une conception cinématique stable pour l'approche de la sonde. Une approche à entraînement direct est disponible en option.
Microscope optique de qualité recherche	Avec un zoom mécanique 7:1 et une résolution de 2 µm, le microscope optique vidéo facilite la localisation des objets, l'approche de la pointe et l'alignement laser.
Scanners multiples	Des scanners piézoélectriques linéarisés avec plusieurs plages sont disponibles pour optimiser les conditions de balayage.
Logiciel LabView	L'AFM HR utilise le logiciel Labview. Pour la personnalisation, les VIs sont facilement disponibles.
Design modulaire	Une fois que vous avez acheté le HR AFM, vous pouvez ajouter à tout moment des modes et des options telles que l'assistance à la mise au point, la lithographie, la cellule liquide etc.
Échange simple de sonde	Grâce au porte-sonde amovible, le remplacement des sondes est simple et prend moins d'une minute.
Optique de vue latérale	Visualisez directement la distance de la surface à la pointe avec l'optique de vue latérale.