Notre partenaire
Microscope AFM Nano-Profiling (NP-AFM)
AFM pour le contrôle de production et la R&DLe NP-AFM est un nanoprofilomètre pour l'analyse de caractéristiques telles que la rugosité de surface et la métrologie des échantillons de haute technicité. Les principales applications du NP-AFM comprennent le contrôle de production et la R&D.
Plus d'informations
The NP-Atomic Force Microscope is a complete nanoprofiler tool including everything required for scanning samples: microscope stage, electronic box, control computer, probes, manuals, and a video microscope. Samples as large as 200 mm X 200 mm X 20 mm are profiled by the NP-AFM system, and several stage options are available for many types of samples in order to create perfect nanoscience instrument for nano imaging and analysis.
Téléchargements
Contact
Séverine
Dubroecq
